[发明专利]程序解析辅助装置及控制装置

说明书

技术领域

本发明涉及程序解析辅助装置及控制装置。

背景技术

关于梯形图程序，作为用于针对控制器是否正确地动作进行调试的功能，已知采样跟踪功能。所谓采样跟踪功能，是指以一定的周期（采样周期）获取（采样）用于表示在指定定时（timing）下的指定设备的状态的数据（跟踪数据），将获取到的跟踪数据存储至规定的存储器（采样跟踪存储器）中。关于采用跟踪的详细内容，记载在非专利文献1至2中。

此处所谓的设备（Device），是指分配有PC的计测监视控制对象和PC之间的输入/输出的PC存储器地址、以及PC在内部使用的存储器地址。例如，在非专利文献1至2所记载的PC中，将分配有输入的设为X设备、将分配有输出的设为Y设备、将内部使用的位数据（内部继电器）设为M设备、将通信中使用的设为B设备、将表示发生错误的设为F设备等，根据数据类别而预先确定有设备文字（device character）。作为各设备的地址，X设备、Y设备和B设备等以16进制表示，M设备和F设备等以10进制表示。

专利文献1：国际公开第2010/095289号

非专利文献1：“QCPUユーザーズマニュアル（機能解説·プログラム基礎編）”三菱电机株式会社，手册编号SH－080473

非专利文献2：“GX Developer Version8オペレーティングマニュアル”三菱电机株式会社，手册编号SH－080356

非专利文献3：“プログラムスライシング技術と応用”下村隆夫著共立出版ISBN4－320－02743－4

非专利文献4：“三菱数値制御装置PLCプログラミング説明書”三菱电机株式会社，手册编号IB－1500035－F

发明内容

如果对怀疑是故障动作的原因的设备进行采样跟踪，以时序图对设备的内容进行显示等并进行解析，则有望确定故障动作的原因。然而，能够一次完成采样跟踪的存储器大小有限。

对此，本发明人进行研究后，发现存在2个问题。第1个问题是，由于能够一次完成采样跟踪的存储器大小有限，因此需要对怀疑是故障动作原因的设备进行筛选。另外，第2个问题是，有时会在包含大量实质上对确定故障原因没有直接贡献的要素（例如，设备的动作）的状态下进行采样跟踪。

作为解决第1个问题的技术，存在非专利文献3所记载的分片（slicing）技术。即，在梯形图程序中，对设备（变量）的依赖关系（的有向图）进行提取。通过使用设备的依赖关系（的有向图），从而能够从程序中对怀疑是故障动作原因的设备进行筛选。

然而，近几年，梯形图程序规模越来越大且更为复杂，即使使用依赖关系（的有向图），也难以对怀疑是故障动作的原因的设备进行筛选。

对此，在专利文献1中记载有将多个解析条件（解析命令、解析对象等）自由组合而进行程序解析的技术。由此，根据专利文献1，能够基于程序解析的结果，快速地确定编辑对象的位置。

即，可以认为如果使用专利文献1中所记载的技术，则能够通过进行依赖关系（的有向图）之间的逻辑运算AND/OR/NOT，而仅将更进一步符合解析条件的依赖关系（的有向图），从庞杂的依赖关系（的有向图）中提取出来。

另一方面，使用装有PC的生产装置进行调试作业。除了如上所述使个人计算机和PC连接而进行调试作业之外，还会使用生产装置所具有的显示器和操作按钮进行调试作业。

为了使用专利文献1中所记载的技术，需要用于将多个解析条件自由组合而进行指定的高级用户界面。由此，在使用生产装置所具有的显示器和操作按钮进行调试作业的情况下，必须在这种有限的用户界面的范围内，实现用于将解析条件自由组合而进行指定的操作方法，因此，与个人计算机的情况相比，操作量显著增多，反而可能更加繁琐。

例如，在专利文献1所记载的技术中，在使用生产装置所具有的显示器和操作按钮进行调试作业的情况下，操作量显著增多，因此，容易引发操作失误，可能无法适当地进行解析条件的组合，容易导致难以对怀疑是故障动作原因的设备进行筛选。其结果，第1个问题并未得到解决。

另外，在专利文献1中没有任何关于故障的再现性的记载，作为再现性较低的故障的对策，也没有任何关于如何提取与故障密切相关的依赖关系的记载。即，第2个问题依然没有得到解决。