[发明专利]用于相干光信号的正交时间偏斜检测

权利要求书

1.一种用于检测正交相移键控（QPSK）信号的同相（I）分量和正交（Q）分量之间的时间偏斜的方法，包括：

在相干光接收器处接收光QPSK测试信号；

将光QPSK测试信号与由所述相干光接收器本地的振荡器生成的振荡器信号进行混频，所述混频产生所检测到的信号；

利用模数转换器对所检测到的信号的I和Q分量进行采样且计算所述I和Q分量的傅里叶变换；

对经过傅里叶变换的I和Q分量进行滤波；以及

使经过滤波的I和Q分量相关，以获得作为所述相关的结果的时间偏斜。

2.根据权利要求1的方法，所述光QPSK测试信号具有正弦包络。

3.根据权利要求2的方法，所述光QPSK测试信号由通过以测试信号的比特率的一半操作的标称67%归零雕刻机调制的连续波光源来生成。

4.根据权利要求2的方法，所述光QPSK测试信号由通过以测试信号的比特率的一半操作的标称33%归零雕刻机调制的连续波光源来生成。

5.根据权利要求2的方法，所述光QPSK测试信号由通过以测试信号的比特率操作的标称50%归零雕刻机调制的连续波光源来生成。

6.根据权利要求2的方法，所述滤波是移除QPSK和本地振荡器信号之间的偏移频率与正弦包络的频率的和频率的低通滤波。

7.根据权利要求2的方法，所述滤波是移除QPSK和本地振荡器信号之间的偏移频率与正弦包络的频率的差频率的高通滤波。

8.根据权利要求1的方法，所述光QPSK测试信号由交替0和1比特的比特模式来生成。

9.根据权利要求1的方法，所述光QPSK测试信号由0和1比特的模式来生成，所述模式的周期是比特周期的两倍。

10.根据权利要求1的方法，所述光QPSK测试信号由0和1比特的模式来生成，所述模式的周期是比特周期的整数倍，其中所述整数大于1。

11.根据权利要求1的方法，其中所述光QPSK测试信号是偏振复用正交相移键控（PM-QPSK）信号，并且其中对PM-QPSK测试信号的第一偏振执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关，以获得与PM-QPSK测试信号的第一偏振相关联的时间偏斜，以及对PM-QPSK测试信号的第二偏振执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关，以获得与PM-QPSK测试信号的第二偏振相关联的另一时间偏斜。

12.根据权利要求11的方法，其中所述第一偏振和所述第二偏振是正交的。

13.根据权利要求1的方法，其中所述光QPSK测试信号包括具有比其比特周期的两倍更长的第一周期的第一测试信号和具有等于其比特周期的两倍的第二周期的第二测试信号，并且其中对所述第一测试信号执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关以解决多比特周期偏斜，以及对所述第二测试信号执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关以解决子比特周期偏斜。

14.根据权利要求13的方法，其中所述第一测试信号是0和1比特的模式，所述模式的周期是比特周期的整数倍，其中所述整数大于1。

15.根据权利要求13的方法，其中所述第二测试信号是交替0和1比特的比特模式。

16.根据权利要求13的方法，其中

所述第一测试信号是偏振复用正交相移键控（PM-QPSK）信号，并且其中对所述第一测试信号的第一偏振执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关，以获得与所述第一测试信号的第一偏振相关联的时间偏斜，以及对所述第一测试信号的第二偏振执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关，以获得与所述第一测试信号的第二偏振相关联的第二时间偏斜；以及

所述第二测试信号是另一偏振复用正交相移键控（PM-QPSK）信号，并且其中对所述第二测试信号的第一偏振执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关，以获得与所述第二测试信号的第一偏振相关联的第三时间偏斜，以及对所述第二测试信号的第二偏振执行所述接收、所述混频、所述采样、所述滤波和所述相关，以获得与所述第二测试信号的第二偏振相关联的第四时间偏斜。