[发明专利]电磁耦合状态检测电路、电力输送装置、非接触式电力输送系统以及电磁耦合状态检测方法有效
申请号: | 201280022828.6 | 申请日: | 2012-04-10 |
公开(公告)号: | CN103548237B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 中野裕章;村上知伦;福田伸一;小堺修;藤卷健一 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H02J5/00 | 分类号: | H02J5/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁 耦合 状态 检测 电路 电力 输送 装置 接触 系统 以及 方法 | ||
1.一种电磁耦合状态检测电路,包括:
检测单元,所述检测单元测量包括与次级侧线圈电磁耦合的初级侧线圈的电路的初级侧Q值以及向所述次级侧线圈的电力输送效率;基于所述初级侧线圈的所述Q值校正所述电力输送效率;以及根据所获得的所述电力输送效率的校正值检测与所述次级侧线圈电磁耦合的状态。
2.根据权利要求1所述的电磁耦合状态检测电路,
其中,通过检测与所述次级侧线圈电磁耦合的状态确定所述次级侧线圈附近是否存在导体。
3.根据权利要求2所述的电磁耦合状态检测电路,
其中,所述Q值是谐振电路的Q值,所述谐振电路包括所述初级侧线圈和电容器。
4.根据权利要求3所述的电磁耦合状态检测电路,其中,所述检测单元包括:
Q值运算单元,获取施加至所述谐振电路的所述初级侧线圈与所述电容器之间的第一电压以及施加于所述初级侧线圈两端间的第二电压,并由所述第一电压与所述第二电压之间的比率计算所述初级侧Q值,所述谐振电路包括所述初级侧线圈和所述电容器,
校正值运算单元,当所述初级侧Q值是Q1并且所述电力输送效率是ηmax时,根据以下公式计算校正值:
以及确定单元,通过对由所述校正值运算单元算出的所述校正值与根据在所述初级侧线圈附近不存在导体时预先测量出的校正值所设定的阈值进行比较,来确定与所述次级侧线圈电磁耦合的状态。
5.根据权利要求3所述的电磁耦合状态检测电路,
其中,所述检测单元包括:
Q值运算单元,使用半功率带宽法计算所述初级侧Q值,所述半功率带宽法由阻抗是串联谐振电路的谐振频率处的阻抗的绝对值的倍的频带确定所述Q值,所述串联谐振电路包括所述初级侧线圈和所述电容器,
校正值运算单元,当所述初级侧Q值是Q1并且所述电力输送效率是ηmax时,根据以下公式计算校正值
以及确定单元,通过对由所述校正值运算单元计算出的校正值与根据在所述初级侧线圈附近不存在导体时预先测量出的校正值所设定的阈值进行比较,来确定与所述次级侧线圈电磁耦合的状态。
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