[发明专利]多光谱成像系统及其表面检测方法

权利要求书

1.用于检测表面的多光谱成像系统，其特征在于，包括：

第一光源，用于将具有第一波长的一束光引导到所述表面上；

第二光源，用于将具有第二波长的一束光引导到所述表面上，所述第二波长不同于所述第一波长；

相机，该相机具有透镜，位于所述透镜下游的分光镜，以及位于所述分光镜下游的一对传感器，所述分光镜允许可见光或红外光中的一个穿过所述分光镜，并且可见光或红外光中的另一个被所述分光镜反射，所述一对传感器中的一个设置用于接收来自所述第一光源的所述光以生成一个图像，并且所述传感器中的另一个设置用于接收来自所述第二光源的所述光以生成另一图像，所述另一图像不同于所述一个图像。

2.如权利要求1所述的多光谱成像系统，其特征在于，所述传感器中的一个沿着一个轴朝向和远离所述分光镜可移动。

3.如权利要求2所述的多光谱成像系统，其特征在于，所述第一光源或所述第二光源中的一个发射红外光，并且所述第一光源或所述第二光源中的另一个发射可见光。

4.如权利要求3所述的多光谱成像系统，其特征在于，接收所述可见光的所述传感器以约5-15帧/秒处理，并且接收所述红外光的所述传感器以约150-200帧/秒处理。

5.如权利要求1所述的多光谱成像系统，其特征在于，进一步包括至少一个处理器，所述一对传感器与所述处理器连通。

6.如权利要求4所述的多光谱成像系统，其特征在于，所述处理器设置用于使所述一个图像和所述另一图像彼此叠加。

7.一种检测零件表面的方法，其特征在于，包括：

所述表面反射具有第一波长的光；

所述表面反射具有第二波长的光，所述第二波长不同于所述第一波长；

反射的具有第一波长的光穿过相机透镜；

反射的具有第二波长的光与具有第一波长的光一样穿过相同的相机透镜；

相机中的分光镜将具有第一波长的光或具有第二波长的光中的一个反射到第一传感器上；

具有第一波长的光或具有第二波长的光中的另一个穿过相机中的分光镜到达第二传感器，所述第二传感器不同于所述第一传感器；以及

第一传感器生成所述表面的第一图像，并且第二传感器生成所述表面的第二图像，所述第一图像不同于所述第二图像。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括相对分光镜移动第一传感器或第二传感器中的至少一个。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，进一步包括发射红外光形式的具有第一波长的光或具有第二波长的光中的一个，以及可见光形式的具有第一波长的光或具有第二波长的光中的另一个。

10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括设置至少一个与第一传感器和第二传感器连通的处理器，并且通过处理器使第一图像和第二图像彼此叠加。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，进一步包括在第一图像和第二图像彼此叠加之前，使第一图像或第二图像中的一个镜像反射。

12.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括设置第一传感器或第二传感器中的一个以约5-15帧/秒处理，并且第一传感器或第二传感器中的另一个以约150-200帧/秒处理。

13.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括所述表面同时反射具有第一波长的光和具有第二波长的光。

14.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括在被测表面反射具有第一波长的光和具有第二波长的光的时候移动零件。

15.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括通过处理器将图像与预设规格进行比较。