[发明专利]用于质量分析的方法和设备

权利要求书

1.一种用于质量分析的方法，包括：

在一个质量分析器中积累一个批次的离子；

使用镜像电流检测来检测该质量分析器中所积累的该批次离子，以便提供一个检测到的信号；

其中该方法包括基于一个先前检测到的信号使用一种算法来控制该质量分析器中所积累的该批次离子中的离子数目，该先前检测到的信号是使用来自该质量分析器中所积累的一个先前批次的离子的镜像电流检测所获得；并且

其中该方法包括基于使用位于该质量分析器外部的一个独立检测器所获得的离子电流或电荷的一个测量值来调整该算法的一个或多个参数。

2.如权利要求1所述的方法，其中该独立检测器包括一个静电计。

3.如权利要求2所述的方法，其中该静电计包括一个收集板或法拉第杯。

4.如权利要求2或3所述的方法，其中该静电计是一个差分静电计以便降低噪声拾取，该静电计包括两个输入端，其中一个输入端接收该离子电流或电荷并且另一个输入端不接收该离子电流或电荷。

5.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中该质量分析器是一个傅里叶变换质量分析器。

6.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中该质量分析器是选自下组：FT-ICR室、静电阱、静电轨道阱以及RF离子阱。

7.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中该检测到的信号是在一个检测时间期间获得并且该先前检测到的信号是在一个先前检测时间期间获得，其中该先前检测时间的持续时间比该检测时间的持续时间短。

8.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其中该检测到的信号是在一个检测时间期间获得并且该先前检测到的信号是在一个先前检测时间期间获得，其中该先前检测时间的持续时间与该检测时间的持续时间基本上相同。

9.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中该算法的一个或多个参数的调整包括以如从该独立检测器所测定的总离子含量与如从该先前检测到的信号所测定的总离子含量的比率来缩放从该先前检测到的信号所测定的总离子含量。

10.如权利要求9所述的方法，其中该总离子含量是针对一个选择的质量范围进行测定的。

11.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中多个离子被脉冲至该独立检测器。

12.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中这些离子从一个离子注入装置被积累在该质量分析器中。

13.如权利要求12所述的方法，其中该注入装置包括一个线性离子阱。

14.如权利要求13所述的方法，其中该注入装置包括一个弯曲的线性离子阱。

15.如权利要求12至14中任一项所述的方法，其中控制该质量分析器中所积累的该批次离子中的离子数目控制或避免该注入装置中的空间电荷效应。

16.如权利要求12至15中任一项所述的方法，其中该算法确定用于将多个离子注入到该注入装置中的一个目标注入时间和/或用于将多个离子注入到该注入装置中的一个目标离子脉冲数目以便由此控制该质量分析器中所积累的离子的数目。

17.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中使用该独立检测器测量离子电流或电荷的频率小于从该质量分析器中的多个批次离子获得多个检测到的信号的频率。

18.如权利要求17所述的方法，其中使用该独立检测器的离子电流或电荷的测量之间的周期是从1至10秒。

19.如以上权利要求中任一项所述的方法，其中使用该独立检测器测量离子电流或电荷是与使用镜像电流检测来检测该质量分析器中所积累的一个批次的离子同时进行的。