[发明专利]磁特性测定方法以及磁特性测定装置有效

专利信息
申请号: 201280025932.0 申请日: 2012-05-24
公开(公告)号: CN103562714A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 西泽佑司;原园学;冈田典久;四辻淳一 申请(专利权)人: 杰富意钢铁株式会社
主分类号: G01N27/72 分类号: G01N27/72;G01N27/82
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 特性 测定 方法 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种磁特性测定方法,其特征在于,包含:

预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与所述磁敏元件的提离量之间的关系作为健全部提离数据的步骤;

预先取得所述事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与所述磁敏元件的提离量之间的关系作为缺陷部提离数据的步骤;

测定步骤,测定被检体中的磁敏元件的输出与获得该输出时的所述磁敏元件的提离量;以及

校正步骤,采用所述健全部提离数据、所述缺陷部提离数据和在所述测定步骤中测定出的提离量,对在所述测定步骤中测定出的所述磁敏元件的输出进行校正运算。

2.根据权利要求1所述的磁特性测定方法,其特征在于,

所述校正步骤包含计算在所述测定步骤中测定的所述磁敏元件的相对输出的步骤,其中,所述相对输出是相对于所述磁敏元件的提离量是在所述测定步骤中测定出的提离量时的所述事先测定用被检体的健全部以及缺陷部中的磁敏元件的输出而言的。

3.根据权利要求2所述的磁特性测定方法,其特征在于,

所述校正步骤包含采用所述磁敏元件的相对输出计算磁敏元件的提离量是预定值时的磁敏元件的输出作为校正值的步骤。

4.根据权利要求1~3中的任意1项所述的磁特性测定方法,其特征在于,

所述缺陷部是磁化方向与所述健全部的磁化方向不同的区域,作为所述事先测定用被检体,从同一钢板的健全部以相互不同的角度取出用于取得所述健全部提离数据的健全部标准校正板和用于取得所述缺陷部提离数据的缺陷部模拟标准校正板。

5.根据权利要求1~3中的任意1项所述的磁特性测定方法,其特征在于,

所述缺陷部是磁化方向与所述健全部的磁化方向不同的区域,作为所述事先测定用被检体,将钢板的健全部作为用于取得所述健全部提离数据的健全部标准校正板,并且使该健全部标准校正板旋转到不同的角度而作为用于取得所述缺陷部提离数据的缺陷部模拟标准校正板。

6.一种磁特性测定装置,其特征在于,具备:

励磁元件,其使被检体磁化;

磁敏元件,其检测由所述励磁元件引起的所述被检体上的磁特性分布;

距离测定装置,其测量所述磁敏元件与所述被检体之间的提离量;

存储装置,其存储表示健全部中的所述磁敏元件的输出与所述磁敏元件的提离量之间的关系的健全部提离数据以及表示缺陷部中的磁敏元件的输出与所述磁敏元件的提离量之间的关系的缺陷部提离数据;以及

运算装置,其采用所述健全部提离数据、所述缺陷部提离数据和由所述距离测定装置测定出的提离量,来校正所述磁敏元件的输出。

7.根据权利要求6所述的磁特性测定装置,其特征在于,

具有个数多于所述距离测定装置的所述磁敏元件,

通过采用所述距离测定装置与所述被检体之间的距离进行插值来计算所述磁敏元件与所述被检体之间的提离量。

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