[发明专利]用于AMOLED显示器的老化补偿的系统和方法

权利要求书

1.一种用于补偿显示器阵列中的像素的系统，所述系统包括：

像素电路，在编程周期期间根据编程信息对所述像素电路编程，且在发光周期期间根据所述编程信息驱动所述像素电路以发光，所述像素电路包括：

发光器件，所述发光器件在所述发光周期期间发光，

驱动晶体管，所述驱动晶体管在所述发光周期期间传输经过所述发光器件的电流，

存储电容，在所述编程周期期间，所述存储电容被充电有至少部分地基于所述编程信息的电压，以及

发光控制晶体管，所述发光控制晶体管被布置为在所述发光周期期间选择性地连接所述发光器件、所述驱动晶体管和所述存储电容中的至少两者，使得电流根据所述存储电容上的电压经由所述驱动晶体管被传输通过所述发光器件；以及

驱动器，所述驱动器通过根据所述编程信息对所述存储电容充电来经由数据线编程所述像素电路；

监测器，所述监测器提取用于指示所述像素电路的老化劣化的电压或电流；以及

控制器，所述控制器操作所述监测器和所述驱动器，并且所述控制器被设置用于：

从所述监测器接收劣化量的指示；

接收用于指示将从所述发光器件发出的亮度的量的数据输入；

基于所述劣化量，确定补偿量以提供至所述像素电路；而且

将所述编程信息提供至所述驱动器以编程所述像素电路，其中，所述编程信息至少部分地基于所接收的数据输入和所确定的补偿量。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述像素电路还包括：

数据开关晶体管，所述数据开关晶体管根据选择线进行操作以将所述驱动晶体管的源极端子连接至所述数据线，所述数据线连接至所述监测器以在监测周期期间测量经过所述驱动晶体管的电流。

3.根据权利要求2所述的系统，其中，所述数据开关晶体管连接至所述发光器件，且其中，所述数据线在所述监测周期期间被固定在校准电压，所述校准电压足以关闭所述发光器件使得在所述监测周期期间经过所述驱动晶体管的电流不会经过所述发光器件传输。

4.根据权利要求2所述的系统，其中，所述监测器包括电压检测器，所述电压检测器用于经由所述数据开关晶体管监测所述发光器件的操作电压。

5.根据权利要求1所述的系统，其中，所述发光控制晶体管连接于所述驱动晶体管的栅极端子与所述存储电容之间，使得在所述发光控制晶体管被关断时的所述编程周期期间，所述驱动晶体管的栅极端子与所述存储电容隔离。

6.根据权利要求5所述的系统，所述系统还包括参考开关晶体管，所述参考开关晶体管连接在所述存储电容和参考线之间，使得在所述编程周期期间，根据施加至所述参考线的参考电压和施加在所述数据线上的编程电压之间的差来对所述存储电容充电。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述参考线在所述编程阶段期间提供补偿电压，所述补偿电压基于由所述控制器确定的所述补偿量。

8.根据权利要求1所述的系统，所述系统还包括：

数据开关晶体管，所述数据开关晶体管根据选择线进行操作以在编程周期和监测周期期间将所述驱动晶体管的源极端子连接至所述数据线；

第一参考开关晶体管，所述第一参考开关晶体管根据所述选择线进行操作以在所述编程周期期间将所述驱动晶体管的栅极端子连接至第一参考线，使得所述驱动晶体管在所述编程周期期间被关断；以及

第二参考开关晶体管，所述第二参考开关晶体管根据所述选择线进行操作以将第二参考线连接至所述存储电容的与所述数据开关晶体管相连接的一个端子之外的另一端子，使得在所述数据开关晶体管、所述第一参考开关晶体管和所述第二参考晶体管被导通时的所述编程周期期间，根据施加在所述数据线上的编程电压与施加在所述第二参考线上的参考电压或补偿电压之间的差对所述存储电容充电。

9.根据权利要求8所述的系统，其中，所述数据线连接至所述监测器以在所述像素电路的监测周期期间测量经过所述驱动晶体管的电流。

10.根据权利要求8所述的系统，所述系统还包括成行和成列地布置的多个相似的像素电路以形成显示面板，并且其中，所述控制器还用于接收所述多个像素电路中每个像素电路的老化劣化的指示，用于确定所述多个像素电路中每个像素电路的劣化量，并用于根据所确定的各个补偿量来编程所述多个像素电路中每个像素电路。