[发明专利]用于检测可导电物体的装置

权利要求书

1.用于检测可导电物体的装置（1），包括：

第一和第二线圈（10、11）或第一和第二线圈部分，但该第一和第二线圈部分以下也称为第一和第二线圈，该第一和第二线圈或线圈部分能够同时产生具有相反极性的磁场（20、21）；以及

第三线圈（12），该第三线圈具有一个、两个或更多个线圈部分，该线圈部分以下同样称为第三线圈（12），所述第三线圈设置在相反的磁场的区域中，以及

电子器件（25），在给第一和第二线圈（10、11）供给以在时间上可变的电流形式的激励期间和/或之后，所述电子器件采集在第三线圈（12）中的对激励的响应、如例如感应电压，或者在给第三线圈（12）供给以在时间上可变的电流形式的激励期间，所述电子器件采集在第一和第二线圈（10、11）中的对激励的响应；

从而可导电物体（30）在存在于所述磁场之一的区域中时在所采集的对激励的响应中产生可检测的信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一和第二线圈或线圈部分相反地或同向地缠绕。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述以在时间上可变的电流形式的激励是任意形状的脉冲束和/或纯正弦形状和/或周期性的脉冲和/或多重脉冲束和/或周期性的振荡形状和/或非周期性的脉冲序列和/或持续时间在0.1ns至1ms之间、如例如在1μs至50μs之间的矩形脉冲，和/或跳跃式地或非跳跃式地下降或上升和/或不是或者不包括矩形脉冲。

4.根据权利要求1至3之一所述的装置，其特征在于，在所述第三线圈中的分别通过所述第一和第二线圈产生的对激励的响应至少部分地、优选达至少90%或99%地补偿，其中，优选在不存在要检测的可导电物体（30）时，得出基本上为零的对激励的响应，

或者

采集通过所述第三线圈（12）在所述第一和第二线圈（10、11）中产生的对激励的响应，使得这两个对激励的响应至少部分地、优选达至少90%或99%补偿，其中，优选在不存在要检测的可导电物体（30）时，这两个对激励的响应基本上互补为零。

5.根据权利要求1至4之一所述的装置，其特征在于，所述电子器件（25）构成为使得在不同的时间采集产生的对激励的响应的曲线。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述电子器件（25）构成为，使得确定所产生的对激励的响应的最大点（M）的和/或最小点的和/或交零点（N）的和/或拐点的和/或其他点的时刻，和/或在不同时刻测量对激励的响应，和/或采集对激励的响应的变化。

7.根据权利要求1至6之一所述的装置，其特征在于，在所述第一或第二线圈（10、11）之一的区域中设有金属的可导电的物体（35）作为所述装置的组成部分，利用该物体例如能实现所产生的对激励的响应的校正或者减小参考物体（35）的预定值或干扰轮廓的影响或者将该参考物体的预定值或干扰轮廓的影响校正到零。

8.根据权利要求1至7之一所述的装置，其特征在于，所述第一和第二线圈（10、11）具有一个共同的轴线，该共同的轴线与所述第三线圈（13）的轴线重合，其中，所述第三线圈（13）可选地居中地设置在所述第一和第二线圈（10、11）之间；或者所述第三线圈（13）的轴线与前两个线圈（10、11）的共同的轴线或各轴线平行地错开或者不平行。

9.根据权利要求1至8之一所述的装置，其特征在于，设有一个或多个另外的线圈，所述另外的线圈能够对所产生的对激励的响应施加影响。

10.根据权利要求1至9之一所述的装置，其特征在于，所述装置包括金属壳体部分或者全金属壳体（29），其中，所述全金属壳体（29）至少包围所述第一、第二和第三线圈并且可能包围所述电子器件（25）的一部分或整个电子器件（25），其中，所述金属壳体部分或者所述全金属壳体包括有色金属或不锈钢、或者由有色金属或不锈钢制成。

11.根据权利要求1至10之一所述的装置，其特征在于，所述装置构成为接近开关或构成为用于识别不同材料的装置、构成为硬币识别装置或构成为用于采集损耗程度或磨损程度的装置或者用于识别合金或缺陷部位、例如裂纹的装置。

12.根据权利要求1至11之一所述的装置，其特征在于，能够采集接收信号的变化，其中，通过该变化的确定的特征能识别材料缺陷。