[发明专利]检验和联接装置系统以及检验装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种按权利要求1和7的前序部分的用于检验和联接装置系统的检验装置。本发明还涉及一种按权利要求12的前序部分的检验和联接装置系统。

背景技术

这种系统包含用于联接电导体的联接装置以及如下检验装置，该检验装置可以与联接装置连接，以便检验和测量与所联接的电导体以及进而所连接的电气设备相关的电气参数。在此，测量过程和检验过程在不改变现有电路的情况下进行。这种系统的特殊的优点在于，检验装置为了测量在电气设备的连续运行中的与运行相关的参数可以被插装到联接装置上。因此，该系统使在连续的生产运行不被中断的情况下测量与运行相关的参数变为可能。

例如在自动化领域中对这种系统不断上升的需求产生了对经改进的功能组件以及扩大的应用领域的要求。

发明内容

因此本发明所要解决的任务是，提供一种经改进的检验装置，该检验装置紧凑地构造，并且能容易地操作且能非常多样化地使用在很复杂的应用中。

该任务通过具有权利要求1和7特征的检验装置来解决。检验装置构造得极为紧凑且能容易地操作。检验装置可以进行多个检验，必要时也可以同时进行多个检验，因而它也可以使用在比较复杂的应用中。

该任务也通过具有权利要求12的特征的检验和联接装置系统来解决。

该系统可以实现利用在联接装置结合到其中的产品外部的测量过程和检验过程的优势，且同时提高了检验装置的联接可能性。此外，它还很容易操作。

按本发明的用于检验和联接装置系统的检验装置包括检验单元，该检验单元包括连接单元，该连接单元具有用于将电连接分离的销元件和两个第一测量联接件，其中，在销元件上布置有两个导电的接触板，这两个接触板分别导电地与两个第一测量联接件中的一个连接。该检验装置的特征在于，测量联接件被布置在检验单元的与销元件对置的一侧上，并且这些测量联接件彼此成角和/或彼此竖向错开地布置。

通过第一测量联接件彼此成角的和/或竖向错开的布置，第一测量联接件是很容易接近的且同时可以在第一测量联接件内布置多个较大的测量头。此外，多个测量头的布置基于角和/或竖向偏差是非常简单的。第一测量联接件优选构造成插座，尤其是用于容纳探测头。特别优选的是它们被设置用于容纳传统的探测头。

第一测量联接件设置用于截取施加在导电的接触板上的电压。它们可以实现检验器件，尤其是测量计，像例如电压计、电流计、频率计、功率计和/或电阻计的联接。

在优选的实施方式中，检验装置包括用于容纳连接单元的检验装置壳体，其中，连接单元能相对于检验装置壳体进行高度调整。这种高度调整优选可以在检验装置的装配的框架内实现。这样做的优势在于使销元件与连接单元竖向错开。

同样优选的是，检验装置包括多个前后相继布置的、带有各一个连接单元的检验单元。特别优选的是，可以将多个检验单元的连接单元相对彼此竖向错开地布置。通过连接单元相对彼此竖向错开，可以有针对性地控制截取施加在不同检验单元的第一接触片上的电压的时间点。

此外优选的是，检验装置包括用于容纳数个检验单元的一个检验装置壳体，或检验装置针对每个检验单元包括一个检验装置壳体。在最开始提到的实施方式中，测量联接件的竖向偏差可以通过连接单元相对于所述一个检验装置壳体的高度调整来实现。在最后提到的实施方式中，测量联接件的竖向偏差可以通过连接单元相对于它的检验单元的检验装置壳体的高度调整来实现。

但同样优选的是，检验单元的检验装置壳体能相对彼此进行高度调整，从而使竖向偏差可以通过检验装置壳体和/或连接单元的高度调整来实现。

在另一同样解决了该任务的优选的实施方式中，检验装置包括至少两个检验单元，这两个检验单元包括各一个连接单元，其中，连接单元具有各一个用于将电连接分离的销元件以及两个第一测量联接件，其中，在销元件上分别布置有各两个导电的接触板，这些接触板分别导电地与同一连接单元的两个第一测量联接件中的一个连接。这个实施方式的检验装置的特征在于，测量联接件布置在检验单元的与销元件对置的一侧上，并且检验单元和/或连接单元彼此竖向错开地布置。

因此在具有多个检验单元的复杂的检验装置中，可以实现第一测量联接件的多个高度差。由此在使用较大的探测头的情况下也能容易地将该探测头插入第一测量联接件以及将该探测头从第一测量联接件拆卸下来。同时，相比于第一测量联接件彼此间不成角地和/或不竖向错开地布置的检验装置，这种检验装置可以构造得更紧凑。