[发明专利]III族氮化物半导体激光元件无效
申请号: | 201280029797.7 | 申请日: | 2012-07-18 |
公开(公告)号: | CN103620895A | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 住友隆道;上野昌纪;善积祐介;吉田乔久;足立真宽 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01S5/323 | 分类号: | H01S5/323 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李亚;穆德骏 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | iii 氮化物 半导体 激光 元件 | ||
1.一种III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,具有:
n型半导体区域,由n型的III族氮化物半导体构成;
活性层,由III族氮化物半导体构成,设置在所述n型半导体区域上;
第一p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,设置在所述活性层上;
电流限制层,设置在所述第一p型半导体区域上,具有在预定的激光谐振方向上延伸的开口;以及
第二p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,在形成所述电流限制层的所述开口之后,再生长在所述第一p型半导体区域上和电流限制层上,
所述第一p型半导体区域中的与所述第二p型半导体区域的界面具有该III族氮化物半导体的半极性面,
所述第一p型半导体区域和第二p型半导体区域中的至少一个具有构成所述第一p型半导体区域与所述第二p型半导体区域之间的界面且具有1×1020cm-3以上的p型杂质浓度的高浓度p型半导体层。
2.根据权利要求1所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
所述高浓度p型半导体层的厚度为10nm以下。
3.根据权利要求1或2所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
所述高浓度p型半导体层仅设置于所述第一p型半导体区域。
4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
所述活性层的所述第一p型半导体区域侧的界面、与所述高浓度p型半导体层的所述活性层侧的界面之间的距离为200nm以上。
5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
该III族氮化物半导体激光元件的激光振荡的谐振波长为500nm以上。
6.根据权利要求1~5中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
所述活性层的振荡波长为500nm以上,
所述高浓度p型半导体层从所述活性层分开200nm以上的距离而隔开配置。
7.一种III族氮化物半导体激光元件,具有:
n型半导体区域,由n型的III族氮化物半导体构成;
活性层,由III族氮化物半导体构成,设置在所述n型半导体区域上;以及
III族氮化物区域,设置在所述活性层上,
所述III族氮化物区域包含:
第一p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成;
电流限制层,设置在所述第一p型半导体区域的主面上,具有开口;以及
第二p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,经由所述电流限制层的所述开口而与所述第一p型半导体区域的所述主面连接,设置在所述第一p型半导体区域上和电流限制层上,
所述电流限制层由III族氮化物构成,
所述第一p型半导体区域的所述主面包含半极性面,
所述III族氮化物区域包含设置在所述第一p型半导体区域内的第一p型半导体部分、设置在所述第二p型半导体区域内的第二p型半导体部分以及包含所述第一p型半导体区域与所述第二p型半导体区域之间的接触界面的第三p型半导体部分,
所述第三p型半导体部分与所述第一p型半导体部分形成接触,
所述第三p型半导体部分与所述第二p型半导体部分形成接触,
所述第三p型半导体部分包含施主杂质,
III族氮化物区域在所述第一p型半导体部分、所述第二p型半导体部分以及所述第三p型半导体部分具有沿着从所述第一p型半导体部分向所述第二p型半导体部分的方向增加后减少的p型掺杂剂分布。
8.根据权利要求7所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
所述第三p型半导体部分的p型掺杂剂浓度为1×1020cm-3以上。
9.根据权利要求7或8所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
所述第三p型半导体部分的p型掺杂剂浓度比所述第三p型半导体部分的硅浓度大。
10.根据权利要求7~9中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,
所述电流限制层具有氮化铝。
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