[发明专利]III族氮化物半导体激光元件无效

专利信息
申请号: 201280029797.7 申请日: 2012-07-18
公开(公告)号: CN103620895A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 住友隆道;上野昌纪;善积祐介;吉田乔久;足立真宽 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: H01S5/323 分类号: H01S5/323
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 李亚;穆德骏
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: iii 氮化物 半导体 激光 元件
【权利要求书】:

1.一种III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,具有:

n型半导体区域,由n型的III族氮化物半导体构成;

活性层,由III族氮化物半导体构成,设置在所述n型半导体区域上;

第一p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,设置在所述活性层上;

电流限制层,设置在所述第一p型半导体区域上,具有在预定的激光谐振方向上延伸的开口;以及

第二p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,在形成所述电流限制层的所述开口之后,再生长在所述第一p型半导体区域上和电流限制层上,

所述第一p型半导体区域中的与所述第二p型半导体区域的界面具有该III族氮化物半导体的半极性面,

所述第一p型半导体区域和第二p型半导体区域中的至少一个具有构成所述第一p型半导体区域与所述第二p型半导体区域之间的界面且具有1×1020cm-3以上的p型杂质浓度的高浓度p型半导体层。

2.根据权利要求1所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

所述高浓度p型半导体层的厚度为10nm以下。

3.根据权利要求1或2所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

所述高浓度p型半导体层仅设置于所述第一p型半导体区域。

4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

所述活性层的所述第一p型半导体区域侧的界面、与所述高浓度p型半导体层的所述活性层侧的界面之间的距离为200nm以上。

5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

该III族氮化物半导体激光元件的激光振荡的谐振波长为500nm以上。

6.根据权利要求1~5中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

所述活性层的振荡波长为500nm以上,

所述高浓度p型半导体层从所述活性层分开200nm以上的距离而隔开配置。

7.一种III族氮化物半导体激光元件,具有:

n型半导体区域,由n型的III族氮化物半导体构成;

活性层,由III族氮化物半导体构成,设置在所述n型半导体区域上;以及

III族氮化物区域,设置在所述活性层上,

所述III族氮化物区域包含:

第一p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成;

电流限制层,设置在所述第一p型半导体区域的主面上,具有开口;以及

第二p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,经由所述电流限制层的所述开口而与所述第一p型半导体区域的所述主面连接,设置在所述第一p型半导体区域上和电流限制层上,

所述电流限制层由III族氮化物构成,

所述第一p型半导体区域的所述主面包含半极性面,

所述III族氮化物区域包含设置在所述第一p型半导体区域内的第一p型半导体部分、设置在所述第二p型半导体区域内的第二p型半导体部分以及包含所述第一p型半导体区域与所述第二p型半导体区域之间的接触界面的第三p型半导体部分,

所述第三p型半导体部分与所述第一p型半导体部分形成接触,

所述第三p型半导体部分与所述第二p型半导体部分形成接触,

所述第三p型半导体部分包含施主杂质,

III族氮化物区域在所述第一p型半导体部分、所述第二p型半导体部分以及所述第三p型半导体部分具有沿着从所述第一p型半导体部分向所述第二p型半导体部分的方向增加后减少的p型掺杂剂分布。

8.根据权利要求7所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

所述第三p型半导体部分的p型掺杂剂浓度为1×1020cm-3以上。

9.根据权利要求7或8所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

所述第三p型半导体部分的p型掺杂剂浓度比所述第三p型半导体部分的硅浓度大。

10.根据权利要求7~9中的任意一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,

所述电流限制层具有氮化铝。

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