[发明专利]用于电子装置测试的浅角度垂直旋转式装载机

说明书

技术领域

本发明涉及电子装置测试的领域，且更特定来说，涉及一种用于在测试微型电子装置中使用的旋转式装载机。

背景技术

大量电子装置在制造期间通过自动测试系统测试电性质及光学性质。典型自动测试系统使用精度电或光学测试设备以找出与装置的电性质及光学性质相关联的值，并且取决于测得的值而接受、拒绝所述装置或将所述装置分类到输出类别中。对于微型装置，自动测试系统经常经设计以处置批量装载，其中制造过程产生大量装置，所述装置具有实质上相同的机械特性(例如大小及形状)，但在电特性或光学特性方面不同。常见做法为构建具有一般落在某一范围内的电性质及光学性质的大量装置且依靠测试将所述装置分类成具有相似特性的可商用群组。

这些装置经常供应到作为以装置填充的容器的测试系统。通常，测试系统必须从批量装载的装置中提取单个装置，为所述装置定向且固定所述装置以使所述测试系统可执行所要的测试。

发明内容

本文教示可在转换时间减少的情况下用于垂直及平面组件装载两者的旋转式装载机的实施例。一个实施例包括圆形、可旋转装载板，所述装载板包含围绕所述装载板的旋转轴布置的多个组件凹槽。所述装载板相对于水平表面以小于50度的倾斜角度倾斜。此旋转式装载机还包含装载壁，所述装载壁围绕邻近所述多个组件凹槽中的特定者的所述装载板的较低部分而布置且在所述装载板上方延伸某一高度。所述装载壁包含：固持表面，所述固持表面在平行于所述装载板的外围边缘的方向上延伸；及装载表面，所述装载表面相对于垂直于所述装载板的顶部表面的线在远离所述固持表面的方向上以小于45度的倾斜角度倾斜。

下文详细描述本发明的此实施例及其它实施例的细节及变化。

附图说明

本文的描述参考附图，其中相同参考数字在所有若干视图中均指代相同部件，且其中：

图1为展示自动测试系统的一个实施例的俯视图；

图2为图1的自动测试系统的旋转式装载机的一个实施例的透视图；以及

图3为图2的旋转式装载机的一部分的近视图。

具体实施方式

虽然已知用于电子组件或装置的自动测试系统，但是现有系统相对于LED来说一般是没有用的。因为制造公差的广泛变化及人眼对光输出的小变化的敏感性联合要求测试LED且将其分类成大量输出群组，所以装载、测试及分类LED尤其具有挑战性。而且，用于待测试的组件的封装经常在大小及触点布置两者上不同。因为制造商之间存在极少的标准化，并且多个有源元件经常容置在一起，所以这种情况对于LED尤其成立。

如相对于图1而开始描述，本文教示的用于微型电子装置11(图3)的装载、测试及分类的自动测试系统10的实施例可包含旋转式装载机，所述旋转式装载机成功地以高速率装载具有变化的大小及配置的装置11。这对于装置11(例如取决于制造商及大小而一般具有变化的形状且经常具有多组触点的发光二极管(LED))尤其需要。

测试系统10包含传送带12及一个或一个以上装载站(例如第一装置装载机14及第二任选装置装载机16，其在转移站18处将电子装置11装载到运载机15上)。测试系统10进一步包含一个或一个以上测试站，例如第一测试站20及第二测试站22，如下文更详细论述。运载机15相对于第一及第二测试站20、22对准以进行测试。在测试之后，提供卸载站25以卸载装置11。控制器28与传送带12、第一及第二装置装载机14、16、第一及第二测试站20、22及卸载站25有线或无线地电连通以感测及控制每一者的操作。

控制器28具有常规结构且可包含处理器、存储器、存储媒体、通信装置及输入与输出装置。例如，控制器28可为标准微控制器，所述标准微控制器包含中央处理单元(CPU)、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)，及输入／输出端口，所述输入／输出端口接收输入信号且发送控制所述系统及执行如本文所描述的特定过程步骤所需的输出信号。本文所描述的功能一般为存储于存储器中的编程指令且由CPU的逻辑执行。当然，执行本文所描述的功能的控制器可为使用外部存储器的微处理器，或可包括与其它集成逻辑电路组合的此微处理器或微控制器的组合。控制器28一般并入到个人计算机中或与个人计算机一起工作，所述个人计算机具有屏幕及例如键盘等输入装置以用于输入命令以进行过程控制并监视所述过程控制。