[发明专利]用于光学地检测气体混合物中的目标气体的设备

权利要求书

1.一种用于光学地检测气体混合物中的目标气体的设备，带有

运行和评估装置（8）和

测量比色计（3），所述测量比色计设计为内壁上带有光学反射表面的多反射测量比色计并且具有气体入口（5），所述气体入口设计用于与测量环境（6）交换气体和气体混合物，

其中，在所述测量比色计（3）上设置有将光发射到所述测量比色计中的辐射源（4）、测量探测器（21）以及参考探测器装置（23，25，27），

其中，所述测量探测器（21）和所述参考探测器装置（23，25，27）设计用于检测所述辐射源（4）的光并且将所述光转换成电信号，所述电信号与所检测到的光的强度相符，

其中，在所述测量探测器（21）之前布置有光学的带通滤波件（22），所述带通滤波件设计用于允许测量波长的光通过，

其中，在所述参考探测器装置（23，25，27）之前布置有光学的双带通滤波装置（24，26，28），所述双带通滤波装置设计用于允许第一参考波长（31）的光和第二参考波长（32）的光通过，以及

其中，所述运行和评估装置（8）设计用于运行所述辐射源（4）并且检测所述测量探测器（21）和所述参考探测器装置（23，25，27）的所述电信号。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述运行和评估装置（8）设计用于从属于所述第一参考波长（31）的信号、属于所述第二参考波长（32）的信号以及属于所述测量波长（30）的信号中，在将所述测量探测器（21）的频谱测量敏感度特征曲线计算在内并且将所述参考探测器装置（23，25，27）的频谱测量敏感度特征曲线计算在内的情况下，对空气湿度的影响进行补偿并且测定目标气体浓度。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中，所述辐射源（4）设计用于射出红外波长范围内的光，并且

其中，所述测量波长（30）、所述第一参考波长（31）和所述第二参考波长（32）均处在所述红外光学波长范围内。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的设备，其中，由所述辐射源（4）射出的光在所述测量比色计（3）的所述反射表面上经历至少一次反射之后到达所述测量探测器（21）和所述参考探测器装置（23，25，27）上。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中，所述测量比色计（3）在内壁方面设计成反射的。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的设备，其中，所述参考探测器装置设计成参考探测器（23），并且

其中，光学的所述双带通滤波装置设计为双带通滤波件（24），所述双带通滤波件允许所述第一参考波长（31）的光和所述第二参考波长（32）的光通过。

7.根据权利要求1至5任一项所述的设备，其中，所述参考探测器装置具有第一参考探测器（25）和第二参考探测器（27），

其中，光学的所述双带通滤波装置具有第一参考波长过滤件（26）和第二参考波长过滤件（28），

其中，所述第一参考波长过滤件（26）允许所述第一参考波长范围内的光通向所述第一参考探测器（25），以及

其中，所述第二参考波长过滤件（28）允许所述第二参考波长范围内的光通向所述参考探测器（27）。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的设备，其中，光学的所述带通滤波件（22）和/或所述双带通滤波装置（24，26，28）和/或所述双带通滤波件（24）和/或所述第一参考波长过滤件（26）和/或所述第二参考波长过滤件（28）设计为光学的干涉滤波器或衍射的光学件。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的设备，其中，设有温度传感器（11，12），所述温度传感器设计用于检测所述测量比色计（3）的壁、所述测量探测器（21）以及所述参考探测器装置（23，25，27）的温度。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的设备，其中，设有加热件（10），所述加热件设计用于加热所述测量比色计（3）的所述壁、所述测量探测器（21）和/或所述参考探测器装置（23，25，27）。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的设备，其中，所述运行和评估装置（8）设计为在结构上至少部分地与所述测量比色计（3）相分离。