[发明专利]核酸扩增装置和核酸分析装置有效

专利信息
申请号: 201280031142.3 申请日: 2012-05-31
公开(公告)号: CN103635568A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 前田耕史;杉山千枝;庄司义之;石泽雅人;佐野稔 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: C12M1/00 分类号: C12M1/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;於毓桢
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 核酸 扩增 装置 分析
【权利要求书】:

1.一种核酸扩增装置,其特征在于,具有:

多个能够单独控制温度的温度控制模块,

对通过各温度控制模块进行温度管理的反应容器内的试样实时进行荧光测定的实时荧光测定部,

对分注到用各温度控制模块进行温度管理的1个或多个反应容器中的温度校正试样的标准熔解温度进行存储的存储部,

将对应于各温度控制模块的各反应容器中容纳的温度校正试样的熔解温度作为测定熔解温度进行测定的熔解温度测定部,以及

将对应于各温度控制模块的测定熔解温度与所述标准熔解温度进行比较,从而基于各差值对各温度控制模块的温度绝对值进行修正的温度修正部。

2.根据权利要求1所述的核酸扩增装置,其特征在于,具有控制部,

所述控制部在通过所述温度修正部进行的各温度控制模块的温度绝对值的修正结束后,自动测定温度校正试样的熔解温度,并对修正后的温度控制模块的温度控制精度进行画面显示。

3.根据权利要求1所述的核酸扩增装置,其特征在于,具有控制部,

所述控制部重复实行下述处理:

在通过所述温度修正部进行的各温度控制模块的温度绝对值的修正结束后,对于各温度控制模块自动测定温度校正试样的熔解温度的处理,和

基于测定结果对各温度控制模块的温度绝对值进行修正的处理。

4.根据权利要求3所述的核酸扩增装置,其特征在于,所述控制部重复进行所述修正的处理和所述测定的处理,直至全部温度控制模块的温度控制精度在预先设定的温度精度范围内。

5.根据权利要求4所述的核酸扩增装置,其特征在于,

对于即使重复预先设定的次数,温度控制精度也不在预先设定的温度精度范围内的温度控制模块,所述控制部画面显示表示温度控制异常的警报。

6.根据权利要求5所述的核酸扩增装置,其特征在于,

对于画面显示表示温度控制异常的警报的温度控制模块,即使在通常动作中所述控制部也持续进行警报的显示。

7.根据权利要求5所述的核酸扩增装置,其特征在于,

对于画面显示表示温度控制异常的警报的温度控制模块,所述控制部将其从通常动作的使用对象中排除在外。

8.一种核酸分析装置,其特征在于,具有核酸扩增装置、分注机构和输送机构,

所述核酸扩增装置具有:多个能够单独控制温度的温度控制模块、对通过各温度控制模块进行温度管理的反应容器内的试样实时进行荧光测定的实时荧光测定部、对分注到用各温度控制模块进行温度管理的1个或多个反应容器的温度校正试样的标准熔解温度进行存储的存储部、将对应于各温度控制模块的各反应容器中容纳的温度校正试样的熔解温度作为测定熔解温度进行测定的熔解温度测定部、以及将对应于各温度控制模块的测定熔解温度与所述标准熔解温度进行比较,从而基于各差值对各温度控制模块的温度绝对值进行修正的温度修正部,

所述分注机构将待检测物或试样分注到所述反应容器,

所述输送机构将所述反应容器输送至所述核酸扩增装置,输送至所述多个温度控制模块中的任意一个。

9.根据权利要求8所述的核酸分析装置,其特征在于,具有控制部,

所述控制部在通过所述温度修正部进行的各温度控制模块的温度绝对值的修正结束后,自动测定温度校正试样的熔解温度并对修正后的温度控制模块的温度控制精度进行画面显示。

10.根据权利要求8所述的核酸分析装置,其特征在于,具有控制部,

所述控制部重复实行下述处理:

在通过所述温度修正部进行的各温度控制模块的温度绝对值的修正结束后,对于各温度控制模块自动测定温度校正试样的熔解温度的处理,和

基于测定结果对各温度控制模块的温度绝对值进行修正的处理。

11.根据权利要求9所述的核酸分析装置,其特征在于,所述控制部重复进行所述修正的处理和所述测定的处理,直至全部温度控制模块的温度控制精度在预先设定的温度精度范围内。

12.根据权利要求10所述的核酸分析装置,其特征在于,对于即使重复预先设定的次数,温度精度也不在预先设定的温度精度范围内的温度控制模块,所述控制部画面显示表示温度控制异常的警报。

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