[发明专利]用于检查磁性工件的方法和测量装置无效
| 申请号： | 201280031261.9 | 申请日： | 2012-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN103620366A | 公开（公告）日： | 2014-03-05 |
| 发明（设计）人： | 汉斯-格尔德·布鲁梅尔;乌韦·林纳特;卡尔·乌多·迈尔;约亨·奥斯特迈尔;乌韦·普法伊费尔 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01M13/02 | 分类号： | G01M13/02;G01L3/10;G01N3/22 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 检查 磁性 工件 方法 测量 装置 | ||
1.一种用于检查磁性工件（2）的方法，所述方法具有以下步骤：
-在未受负载的情况下测量所述工件（2）上的内部机械应力；
-在受到负载的情况下测量所述工件（2）上的内部机械应力；
-借助于所述两次测量为至少一个测量点建立校准函数（7）；
-在考虑所述校准函数（7）的情况下测量在所述至少一个测量点上的、从外部施加的机械应力。
2.根据权利要求1所述的方法，其中为了进行所述测量应用磁弹性传感器（4）。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述校准函数（7）包括校准曲线。
4.根据权利要求3所述的方法，其中依据所述校准曲线的斜率识别所述工件（2）的材料中的缺陷。
5.根据权利要求1至4中所述的方法，其中用于建立所述校准函数（7）的测量在不同的温度下实施。
6.根据权利要求1至5所述的方法，其中，用于建立所述校准函数（7）的测量在用于测量的传感器的不同位置上实施。
7.根据权利要求1至6所述的方法，其中，所述校准函数（7）包括所述内部机械应力的图表。
8.根据权利要求1至7所述的方法，其中，为了测量从外部施加的机械应力，对用于进行测量的传感器（4）的所述位置的说明、与所述工件（2）的距离和/或所述温度进行说明。
9.一种用于检查磁性工件（2）的测量装置，所述测量装置具有用于检测所述工件（2）上的机械应力的传感器（4）和用于处理测量值的控制器（6），所述控制器适用于建立用于校正对从外部施加的机械应力进行的测量的校准函数（7）。
10.根据权利要求9所述的测量装置，其中，所述传感器（4）是磁弹性传感器。
11.根据权利要求9或10所述的测量装置，其中，所述传感器（4）布置在多轴系统（5）上。
12.根据权利要求8至11所述的测量装置，所述测量装置具有用于向所述工件（2）施加力矩的装置（8）。
13.根据权利要求8至12所述的测量装置，其中，所述工件（2）是轴。
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