[发明专利]SPR传感器元件和SPR传感器无效
申请号: | 201280032307.9 | 申请日: | 2012-02-21 |
公开(公告)号: | CN103635789A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 绀谷友广 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N21/03 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | spr 传感器 元件 | ||
技术领域
本发明涉及SPR传感器元件和SPR传感器。更具体地说,本发明涉及包括光波导的SPR传感器元件和SPR传感器。
背景技术
迄今为止,在化学分析和生化分析等领域,已经使用了包括光纤的表面等离子体共振(SPR)传感器。在包括光纤的SPR传感器中,在光纤顶端部的外周面上形成金属薄膜,并将分析试样固定在向其中导入光的光纤上。在导入的光中,具有特定波长的光在金属薄膜中产生表面等离子体共振(surface plasmon resonance),并使其光强度衰减。在该SPR传感器中,产生表面等离子体共振的光的波长,通常随着固定在光纤上的分析试样的折射率而变化。因此,如果测量在产生表面等离子体共振之后光强度被衰减的波长,可以识别产生表面等离子体共振的光的波长。此外,如果检测到光强度衰减的波长的变化,可以确认产生表面等离子体共振的光的波长已经改变,从而可以确认分析试样折射率的变化。因此,该SPR传感器可以应用于多种化学分析和生化分析中,例如试样浓度的测量和免疫反应的检测。
例如,在试样为溶液的情况下,试样(溶液)的折射率取决于溶液的浓度。所以,采用其中将试样(溶液)与金属薄膜接触的SPR传感器,通过测量试样(溶液)的折射率,可以检测试样的浓度,而且通过确认折射率的变化,可以确认试样(溶液)的浓度已经改变。在免疫反应的分析中,例如借由电介质膜(dielectric film),将抗体固定在SPR传感器中光纤的金属薄膜上,将分析物与抗体接触,并产生表面等离子体共振。在该情况下,如果抗体与分析物进行免疫反应,试样的折射率改变。因此,通过确认在抗体与分析物之间接触前后试样的折射率已经发生变化,可以确定抗体和分析物已经进行了免疫反应。
在包括光纤的SPR传感器中,光纤的顶端部呈细小的圆筒形,因此,存在难以形成金属薄膜和难以将分析试样固定在光纤上的问题。为了解决所述问题,例如,已经提出:包括光从中透过的芯和覆盖所述芯的包层的SPR传感器元件,其中在包层预定的位置形成延伸至所述芯表面的通孔,并在这样的芯表面与该通孔对应的位置上形成金属薄膜(例如,专利文献1)。在所述SPR传感器元件中,易于在所述芯表面上形成用于产生表面等离子体共振的金属薄膜,并将分析试样固定在表面上。
然而,近年来在化学分析和生化分析中,对检测细微变化和/或痕量组分的需求日益增加,因此,正需要进一步增强SPR传感器元件的检测灵敏度。引文列表
专利文献
[专利文献1]JP2000-19100A
发明内容
发明要解决的问题
考虑到解决该常规问题进行了本发明,本发明的目的是提供一种具有非常优异检测灵敏度的SPR传感器元件和SPR传感器。
用于解决问题的方案
根据本发明的一个实施方案,提供一种SPR传感器元件,包括:检测单元和与所述检测单元邻接的试样载置部,其中:检测单元包括下包层、设置为使得至少一部分与所述下包层邻接的芯层、覆盖所述芯层的金属层和覆盖所述金属层的覆盖层;并且所述覆盖层由金属氧化物构成,并且所述覆盖层的折射率比所述芯层的折射率高。
在优选实施方案中,所述覆盖层的折射率为1.60以上。
在优选实施方案中,所述覆盖层的衰减系数为1.80×10-2以下。
在优选实施方案中,所述覆盖层的厚度为5nm至260nm。
根据本发明另一方面,提供SPR传感器。所述SPR传感器包括如上所述的SPR传感器元件。
发明的效果
根据本发明的实施方案,通过用金属层覆盖用作检测单元的光波导的芯层,并进一步用由金属氧化物构成的覆盖层覆盖该金属层,可以提供具有非常优异检测灵敏度的SPR传感器元件和SPR传感器。
附图说明
图1是说明根据本发明优选实施方案的SPR传感器元件的示意性立体图(perspective view)。
图2是图1中说明的SPR传感器元件的示意性截面图。
图3是说明本发明SPR传感器元件生产方法的实例的示意性截面图。
图4是说明根据本发明优选实施方案的SPR传感器的示意性截面图。
具体实施方式
A.SPR传感器元件
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