[发明专利]半导体基板及其制造方法、太阳能电池元件、以及太阳能电池有效
申请号: | 201280036330.5 | 申请日: | 2012-07-24 |
公开(公告)号: | CN103718309B | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 佐藤铁也;吉田诚人;野尻刚;町井洋一;岩室光则;织田明博 | 申请(专利权)人: | 日立化成株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04;H01L21/225 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 蒋亭 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 及其 制造 方法 太阳能电池 元件 以及 | ||
1.一种半导体基板,其具有半导体层和杂质扩散层,
所述杂质扩散层含有:选自K、Na、Li、Ba、Sr、Ca、Mg、Be、Zn、Pb、Cd、V、Sn、Zr、Mo、La、Nb、Ta、Y、Ti、Zr、Ge、Te及Lu中的至少一种金属原子;以及选自n型杂质原子及p型杂质原子中的至少一种杂质原子,
所选的金属原子用于使所述杂质扩散层中的应变松弛,
具有高杂质浓度的所述杂质扩散层形成于半导体基板的电极形成预定区域,具有低杂质浓度的所述杂质扩散层形成于半导体基板的受光区域,
选自K、Na、Li、Ba、Sr、Ca、Mg、Be、Zn、Pb、Cd、V、Sn、Zr、Mo、La、Nb、Ta、Y、Ti、Zr、Ge、Te及Lu中的至少一种金属原子包含于具有高杂质浓度的所述杂质扩散层,
选自K、Na、Li、Ba、Sr、Ca、Mg、Be、Zn、Pb、Cd、V、Sn、Zr、Mo、La、Nb、Ta、Y、Ti、Zr、Ge、Te及Lu中的至少一种金属原子不包含于具有低杂质浓度的所述杂质扩散层。
2.如权利要求1所述的半导体基板,其中,所述杂质扩散层的表面的所述金属原子的含量为1×10
3.如权利要求1或2所述的半导体基板,其中,所述n型杂质原子为选自磷P及锑Sb中的至少一种。
4.如权利要求1或2所述的半导体基板,其中,所述p型杂质原子为选自硼B及镓Ga中的至少一种。
5.如权利要求1或2所述的半导体基板,其中,所述杂质扩散层包含n型杂质原子且通过对被赋予到所述半导体层的至少一个面上的玻璃粉末进行热处理而形成,
所述玻璃粉末包含含有n型杂质的物质和玻璃成分物质,
所述含有n型杂质的物质选自P
所述玻璃成分物质选自SiO
6.如权利要求1或2所述的半导体基板,其中,所述杂质扩散层包含p型杂质原子且通过对被赋予到所述半导体层的至少一个面上的玻璃粉末进行热处理而形成,
所述玻璃粉末包含含有p型杂质的物质和玻璃成分物质,
所述含有p型杂质的物质选自B
所述玻璃成分物质选自SiO
7.一种太阳能电池元件,其具备权利要求1~6中任一项所述的半导体基板、和配置在所述杂质扩散层上的电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的