[发明专利]在透明材料中材料瑕疵的可靠侦检方法及装置

说明书

本发明涉及一种用于检查以及侦检透明或半透明物体，例如平坦玻璃及/或塑胶产品关于刮痕、外来杂质或类似材料瑕疵的装置以及方法，所述刮痕、外来杂质或类似的材料瑕疵造成所述材料中折射率的改变。

EP1 288 651B1揭露了一种利用评估所观察的图像，来决定大面积方格的透明材料（例如玻璃）中的光学瑕疵（特别是屈光力）的装置以及相对应的方法。此装置包含用于投射由规则序列所构成的定义图案的光源、用于配置要在所述投射的光束路径中检查的方格的进一步装置、以及相机，所述序列包含至少两个不同的光强度；其中所述图案的序列被指向所述相机的像素。

使用这种装置，假设已知的是，要达成的目的应该是提供一种装置，使用所述装置可在至少一个尺寸的方格中决定光学瑕疵。

可通过将光源形成为发光矩阵的发光墙，所述发光墙由多样性的LED组成，所述LED可被选择性地、优选地在行中及/或在列中驱动，而达成此目的。

在此情况中，序列必定是完全等距离的，且它们的规则结构必定没有任何偏差。这种偏差损害了此方法中的测量结果。

此外，EP1 477 793A2描述了一种用于侦检透明材料中瑕疵的方法以及相对应的装置，其中所述材料的定义亚体积曝露至第一辐射源，且其中光通过第二辐射源而耦合至所述材料中，以这种方式使得在所述亚体积中的光路径只在所述材料内延伸。在此方法中，所述亚体积中的瑕疵通过下述事实而被识别：

a）被所述瑕疵散射的光，或

b）由于所述瑕疵造成在明视场中的吸收，及/或

c）由于所述瑕疵造成所述第一辐射源的光偏差被侦检到。

根据本发明的装置以及相对应方法的目的是提供一种装置以及方法，使用所述装置以及方法，可发生在透明材料（特别是玻璃）中的所有可能瑕疵可被可靠地侦检并分类。此外，应该可能让用户在任何时间确定的是，保证了所述装置或方法的操作可靠性。

通过如权利要求1-3中所主张的装置以及分别如权利要求4-8中所主张的方法来达成此目的。

权利要求1:

一种用于在连续制造的透明材料带中，通过在透射光以及直射光中测试相对于进料方向横向延伸的一条此材料带，而可靠地侦检材料瑕疵的装置，其特征在于，其具有下述特征：

a）将要测试的所述透明材料的宽度的固定入口（11）用以作为线性相机（9）的支撑物，所述线性相机（9）关于它们的撷取区域没有间隙地涵盖此宽度，且利用具有固定光通量的线性照明装置（5）以及具有振荡光通量的邻接的线性照明装置（6）在传送中没有间隙地照亮所述材料带，其中额外的明视场照明（8）在直射光中照亮所检查的条，

b）所述固定入口（11）另外用以作为另外的线性相机（1）的支撑物，其光轴相对于所述线性相机（11）稍微倾斜，所述线性相机（1）关于它们的撷取区域也没有间隙地涵盖所述宽度，所述线性相机（1）观察位于所述照明装置（6）的表面上的线条光栅（7），且所检查的条以暗视场照明（2）在直射光中被照亮，

c）用于监控所述照明装置（5、6、2、8）以及所述相机（9、1）的功能的装置。

权利要求2:

如权利要求1中所述的装置，

其特征在于，

所述线条光栅（7）只涵盖所述照明装置（6）的所述表面关于其纵轴范围的半侧。

权利要求3:

如权利要求1或2中所述的装置，

其特征在于，

提供了传感器，其记录所述透明材料带的速度，并使所述线性相机（9、1）的线频率适应于所述速度。

权利要求4:

一种用于在连续制造的透明材料带中，通过在透射光以及直射光中测试相对于进料方向横向延伸的一条此材料带，而可靠地侦检材料瑕疵的方法，

其特征在于，其具有下述特征：

a）以具有固定光通量的线性照明装置（6）以及具有振荡光通量的邻接的照明装置（5），以及额外的明视场照明（8）以及额外的暗视场照明（2），在透射光以及直射光中没有间隙地照明所述透明材料带，所述线性照明装置（6）相对于所述带横向地配置，所述邻接的照明装置（5）同样地相对于所述带横向地配置，所述线性照明装置（6）在表面上具有线条光栅（7），

b）利用配置在固定入口（11）上的线性相机（9、1）来没有间隙地撷取在所述透明材料带的宽度上延伸的撷取区域，

c）监控所述照明装置（5、6、2、8）以及所述相机（9、1）的功能，