[发明专利]微芯片和微粒分析装置有效
申请号: | 201280037611.2 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN103717308A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 秋山雄治;秋山昭次;山崎刚 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | B01L3/02 | 分类号: | B01L3/02;G01N15/14 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 微粒 分析 装置 | ||
技术领域
本公开涉及微芯片。更具体地,本公开的实施方式涉及用于分析诸如细胞等的微粒的微芯片。
背景技术
最近开发的微芯片具有形成以在由硅,玻璃等形成的基底上通过使用用于半导体工业的微机械技术来执行化学或生物分析的区域或通道。使用这种微芯片的分析系统被称作微型全分析系统(微型-TAS)、芯片实验室、生物芯片等。这些分析系统注重作为能够提高分析的速度,效率,或者集成,以及进一步的能够提供紧凑的分析装置的技术。
微型-TAS用在采用小数量的样本进行分析的情况或者在微芯片设计用作一次性使用的情况下,因而微型-TAS尤其期望应用在处理有价值的和数量非常少的样本或者大量的生物分析中。作为微型-TAS的一个应用的例子,示出了电化学探测器和结构紧凑型的电化学传感器。电化学探测器用于液相色谱法,结构紧凑型的电化学传感器用于临床或医疗实践。
作为微型-TAS的另一个应用的例子,存在一种技术,其中在设置在微芯片上的通道中分析诸如细胞,微珠等这样的微粒。在该技术中,以光学,电学或磁的方式对微粒的特征进行分析。在这种微粒分析技术中,当根据分析的结果确定一个群体(组)满足预定的情况时,将该群体从该微粒中分离并从该微粒中收集。
例如,专利文献1,公开了“一种微芯片,该微芯片包括:流通路径,含有微粒的流体流经该流通路径;孔,流经该路径的流体穿过该孔被排放到芯片外面的空间;以及光照射部分,安装在该流通路径的预定位置以检测该微粒的光学性质”。专利文献1中所公开的微芯片用于通过对包含从该孔中排出的微粒的液滴的运动方向进行控制来对确定具有预定的光学性质的微粒进行分类(sort,拣选)。
引用列表
专利文献
PTL1:日本专利申请公开2010-190680
发明内容
技术问题
在诸如专利文献1所描述的微粒分析微芯片中,为了精确地控制从孔中喷射出的液滴的流动方向以及正确地对微粒进行分离和分类,有必要从该孔中稳定地喷射出规则尺寸和形状的液滴以及保持稳定的喷射路径。
鉴于前述内容,希望提供一种能够从孔中稳定地喷射出具有规则尺寸和形状的液滴,以及在不使用昂贵的材料或者经过复杂的制模工艺的情况下,以低成本和简单的方式保持稳定的喷射路径。
解决方法
根据本公开的实施方式,提供了一种包括流道、喷射部分以及切口(cutout)部分的微芯片。该流道被配置为运送其中的流体。该喷射部分包括朝向基底层的端面的开口,以及该喷射部分被配置为向外喷射流经流道的流体。该基底层彼此叠加。该切口部分形成在喷射部分的开口与基底层的端面之间。切口部分直径比喷射部分的开口的直径大。根据该实施方式的微芯片可进一步包括连接部分,被配置为具有直线形状,用于将流道连接到喷射部分。
在根据该实施方式的微芯片中,切口部分位于喷射部分的开口与基底层的端面之间,喷射部分设置在从易于受到由于注塑制模而导致的成模缺陷的影响的基底层的端面向内凹陷预定距离的位置处。因此,该喷射部分的开口可以防止形成不规则的形状,从而形成具有所需要的形状的喷射部分。
在该实施方式的微芯片中,喷射部分被设置在从易于受到由于热压焊接而导致的变形的影响的基底层的端面向内凹陷一定距离的位置处。喷射部分的形状和被设置为将流道与喷射部分连接的连接部分的形状因此能够避免被变形。而且,能够形成具有所希望的形状的喷射部分和流道。在实施方式的微芯片中,切口部分对应于开口和端面之间的距离优选地具有0.2毫米或者更宽的宽度。
具有0.2毫米或者更宽的宽度的切口部分毫无疑义地能够避免因为注塑制模产生的成模缺陷或者因为热压焊接产生的变形。
根据本公开的实施方式的微芯片优选地用于分析微粒。还提供了具有安装在其上的微芯片的微粒分析装置。
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