[发明专利]轨迹之间的线性关系

权利要求书

1.一种运行时间物位测量仪器（500），具有：

发射单元（501，502），用于发出发射信号（507），所述发射信号在填充介质的填充物料表面（505）和至少一个第二反射体（506，512）上被反射；

接收单元（501，513），用于检测被反射的所述发射信号（509，510），其中所述发射信号为具有多个回声（704，701，703）的回声曲线（703）；

评估单元（513），用于执行追踪方法，以用于对在不同时间检测到的回声曲线的分别产生于相同的反射体的回声进行分组，其中所述评估单元实施成执行下述步骤：

（a）确定第一组产生于第一反射体的回声（701）的第一轨迹和第二组产生于第二反射体的回声（702）的第二轨迹，其中每个轨迹描述相应的所述发射信号在不同时间（t₁，t₂，t₃，t₄）从所述发射单元至与所述轨迹相关联的反射体并且返回至所述接收单元的运行时间；

（b）确定所述第一轨迹和所述第二轨迹之间的线性关系；

（c）从所述第一轨迹和所述第二轨迹之间的所述线性关系中确定一个或多个未知量。

2.根据权利要求1所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述第一组回声为在所述填充物料表面（505）上反射的发射信号（509）。

3.根据上述权利要求中任一项所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述未知量为另外的回声曲线的与所述第二轨迹相关联的回声的期望位置，其中所述另外的回声曲线与其他的回声曲线相比在稍后的时间点被接收。

4.根据上述权利要求中任一项所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述未知量为所述填充介质（504）的介电常数。

5.根据上述权利要求中任一项所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述运行时间物位测量仪器（500）是TDR物位测量仪器；

其中所述未知量是所述TDR物位测量仪器的探头（601，602）的长度。

6.根据权利要求5所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述评估单元（513）实施成根据所述探头（601，602）的所确定的长度通过与实际探头长度进行比较来识别：所述探头是否受到污染。

7.根据权利要求5或6所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述评估单元（513）实施成根据所述探头（601，602）的所确定的长度通过与实际探头长度进行比较来计算所确定的介电常数的品质。

8.根据上述权利要求中任一项所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述未知量为装有所述填充介质的容器的高度（520）或者为所述容器中固定的反射体（512，506）的位置。

9.根据权利要求5至8中任一项所述的运行时间物位测量仪器，

其中所述评估单元（513）实施为执行下述步骤：

计算所述容器底部的位置d_底部；

确定所述容器底部的所计算出的位置是否位于所述探头的下部端部之上；

将所计算出的位置作为反射体的位置分类，其中如果所述容器底部的所计算出的位置位于所述探头的下部端部之上，则不是所述容器底部。

10.根据上述权利要求中任一项所述的运行时间物位测量仪器，

其中对所述轨迹和所述第一轨迹和所述第二轨迹之间的线性关系的确定通过估算法来进行。

11.根据上述权利要求中任一项所述的运行时间物位测量仪器，

其中确定所述第一轨迹和所述第二轨迹之间的线性关系通过递归法来进行。