[发明专利]光学膜有效
申请号: | 201280038703.2 | 申请日: | 2012-08-06 |
公开(公告)号: | CN103733095A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 全炳建;尹赫;柳秀英;朴文洙 | 申请(专利权)人: | LG化学株式会社 |
主分类号: | G02B5/30 | 分类号: | G02B5/30;G02F1/1335 |
代理公司: | 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 朱梅;王荣 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 | ||
1.一种光学膜,在将其设置在线性偏振片的一侧上的状态下,以50度的倾斜角测量的所述光学膜的漏光强度为0.1AU以下,并且所述光学膜包括相互层压的正双轴相位延迟层和光学各向异性层,其中,所述正双轴相位延迟层的光轴形成为与所述光学各向异性层的光轴垂直。
2.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述光学各向异性层为单轴相位延迟层或双轴相位延迟层。
3.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层和所述光学各向异性层满足下面的公式5至公式7:
[公式5]
|R1(λ)|>|R2(λ)|
[公式6]
R1(λ)/R1(550)<R2(λ)/R2(550)
[公式7]
R(450)/R(550)<R(650)/R(550)
其中,公式5中的|R1(λ)|表示所述正双轴相位延迟层和所述光学各向异性层中的一个层相对于具有λnm波长的光的相位差的绝对值,以及|R2(λ)|表示所述正双轴相位延迟层和所述光学各向异性层中的另一个层相对于具有λnm波长的光的相位差的绝对值,公式6中的R1(λ)和R1(550)分别表示相对于具有λnm和550nm波长的光具有相对更高的相位差绝对值的所述正双轴相位延迟层或所述光学各向异性层的相位差,以及R2(λ)和R2(550)分别表示相对于具有λnm和550nm波长的光具有相对更低的相位差绝对值的所述正双轴相位延迟层或所述光学各向异性层的相位差,以及公式7中的R(450)、R(550)和R(650)分别表示所述光学膜相对于具有450nm、550nm和650nm波长的光的相位差。
4.根据权利要求1所述的光学膜,其相对于具有550nm波长的光的面内相位差为100nm至250nm。
5.根据权利要求1所述的光学膜,其中,在将其设置在所述线性偏振片的一侧上的状态下,在所有方位角测量的漏光强度都为0.1AU以下。
6.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层相对于具有550nm波长的光具有220nm至290nm的面内相位差。
7.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层在厚度方向上的相位差(RT)与所述正双轴相位延迟层的面内相位差(RI)的比值(RT/RI)大于0且不超过3。
8.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层在厚度方向上的相位差(RT)与所述正双轴相位延迟层的面内相位差(RI)的比值(RT/RI)大于0且不超过1.1,并且所述光学各向异性层为单轴相位延迟层。
9.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层在厚度方向上的相位差(RT)与所述正双轴相位延迟层的面内相位差(RI)的比值(RT/RI)在0.3至1.1的范围内,并且所述光学各向异性层为正单轴相位延迟层。
10.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层在厚度方向上的相位差(RT)与所述正双轴相位延迟层的面内相位差(RI)的比值(RT/RI)大于0且不超过1,并且所述光学各向异性层为负单轴相位延迟层。
11.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层在厚度方向上的相位差(RT)与所述正双轴相位延迟层的面内相位差(RI)的比值(RT/RI)大于0且不超过2,并且所述光学各向异性层为双轴相位延迟层。
12.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层在厚度方向上的相位差(RT)与所述正双轴相位延迟层的面内相位差(RI)的比值(RT/RI)大于0且不超过1.5,并且所述光学各向异性层为正双轴相位延迟层。
13.根据权利要求1所述的光学膜,其中,所述正双轴相位延迟层在厚度方向上的相位差(RT)与所述正双轴相位延迟层的面内相位差(RI)的比值(RT/RI)大于0且不超过2,并且所述光学各向异性层为负双轴相位延迟层。
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