[发明专利]干扰源分析方法及装置

权利要求书

1.一种干扰源分析方法，其特征在于，包括：

获取测量数据，所述测量数据为对待分析频段进行频点扫描或对所述待分析频段进行频率分配支持FAS统计得到的；

选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关；

如果所述测量数据与所述干扰源分析模型相关，则确定所述待分析频段中存在与所述干扰源分析模型对应的干扰源；否则，则确定所述待分析频段中不存在与所述干扰源分析模型对应的干扰源，其中，所述干扰源分析模型包括已知干扰频点结果模型和全频点遍历自适应干扰模型；

所述获取测量数据，包括：

在第一时段对所述待分析频段进行频点扫描或FAS统计以得到第一测量数据；

在第二时段对所述待分析频段进行频点扫描或FAS统计以得到第二测量数据；

在第三时段对所述待分析频段进行频点扫描或FAS统计以得到第三测量数据；

计算所述第一测量数据与所述第二测量数据的第一差值；

计算所述第二测量数据与所述第三测量数据的第二差值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关之前，还包括：

对所述测量数据进行平滑滤波以得到平滑滤波后的测量数据；

所述选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关，包括：

利用所述已知干扰频点结果模型，对所述平滑滤波后的测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述已知干扰频点结果模型是否相关。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关，包括：

利用所述已知干扰频点结果模型对所述第一差值与所述第二差值进行频域相关性分析，以得到差值相关性分析结果；

若所述差值相关性分析结果大于预设的门限，则确定所述待分析频段中存在与所述已知干扰频点结果模型对应的干扰源；否则，则确定所述待分析频段中不存在与所述已知干扰频点结果模型对应的干扰源。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述利用已知干扰频点结果模型对所述第一差值与所述第二差值进行频域相关性分析之后，还包括：

利用所述全频点遍历自适应干扰模型，对所述第一测量数据、所述第二测量数据、所述第三测量数据进行频域相关性分析；若所述第一测量数据、所述第二测量数据及所述第三测量数据均与所述全频点遍历自适应干扰模型相关，则确定所述待分析频段存在与所述全频点遍历自适应干扰模型向对应的干扰源，否则，不存在与所述全频点遍历自适应干扰模型向对应的干扰源。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关之前，还包括：

利用底噪滤波算法过滤出所述测量数据中的底噪；

计算所述底噪的干扰均值和标准差；

所述选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关，包括：

根据所述底噪的干扰均值和标准差，利用所述全频点遍历自适应模型，对所述测量数据中的底噪进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关。

6.根据权利要求1～5任一所述的方法，其特征在于，

所述选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关之前，还包括：

建立所述已知干扰频点结果模型和所述全频点遍历自适应干扰模型。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述建立所述已知干扰频点结果模型包括：建立互调干扰模型或CDMA干扰模型。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述建立所述全频点遍历自适应干扰模型包括：

建立频点干扰模型或宽带干扰分析模型。