[发明专利]触头

说明书

技术领域

本发明涉及一种触头，例如涉及一种用于集成电路检查用探测器的触头。

背景技术

以往，作为用于集成电路检查用探测器的触头，有一种电子端子用插座的触头，在通过将电子部件压向插座主体而保持所述电子部件的电极端子与所述插座主体的电极部的接触、使所述插座主体的电极部连接于被连接电子部件的电极端子而成的电子部件用插座中，所述插座主体的电极部具有：一对触点，通过对规定厚度的弹性板材进行打孔加工，在两端分别与所述电子部件的电极端子及所述被连接电子部件的电极端子接触；以及蜿蜒部，介于所述一对触点之间，连接所述一对触点而连续地并列设置（参照专利文献1）。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2002-134202号公报

发明内容

发明所要解决的课题

但是，在所述电子端子用插座的触头中，由于蜿蜒部的回折次数少，难以确保期望的伸缩量（位移量），因此使用便利性差。为此，考虑一种以确保期望的伸缩量（位移量）为目的的、使所述电子端子用插座的回折次数增加的长尺寸的触头。但是，存在的问题点是：当长尺寸的触头的蜿蜒部变得细长时，电阻增加，电流难以流动，长尺寸化存在局限性。

本发明涉及的触头鉴于前述的问题点，目的在于提供一种在确保规定的位移量的同时、具有期望的导通性的触头。

解决课题的手段

为了解决前述课题，本发明涉及的触头构成为具有：波纹体；固定部，连接于所述波纹体的一端部；以及可动部，连接于所述波纹体的另一端部，通过按压所述可动部而压缩所述波纹体，使突出设置于所述波纹体的连接用突起接触所述波纹体自身。

发明效果

根据本发明，为了确保期望的位移量，即便使波纹体为长尺寸，由于当压缩波纹体时，连接用突起接触波纹体自身而短路，能够使接触电阻下降，因此能够得到接触电阻小的触头。

作为本发明涉及的实施方式，所述波纹体可以由直线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成，并且，在相邻的所述中间部的至少一个上可以设有连接用突起。

根据本实施方式，当压缩波纹体时，由于设置于中间部的连接用突起接触相对的其它中间部而短路，因此，能够得到接触电阻小的触头。

作为本发明涉及的其它实施方式，所述波纹体可以由曲线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成，并且，在所述中间部和所述圆弧部的边界可以设有能够相互抵接的连接用突起。

根据本实施方式，当压缩波纹体时，由于设置于中间部和圆弧部的边界的连接用突起相互接触而短路，因此，能够得到接触电阻小的触头。

作为本发明的不同的实施方式，波纹体和固定部的连接位置可以配置于所述固定部的轴心上，又，波纹体和固定部的连接位置也可以配置于从所述固定部的轴心偏心的位置上。

根据本实施方式，在将波纹体和固定部的连接位置配置于固定部的轴心上的情况下，能够得到以较小的操作力即可操作的、寿命长的触头。

另一方面，在将波纹体和固定部的连接位置配置于从固定部的轴心偏心的位置上的情况下，能够得到波纹体易于压曲、触点压力高的触头。

作为本发明的不同的实施方式，波纹体和可动部的连接位置可以配置于所述可动部的轴心上，又，波纹体和可动部的连接位置也可以配置于从所述可动部的轴心偏心的位置上。

根据本实施方式，在将波纹体和可动部的连接位置配置于可动部的轴心上的情况下，能够得到以较小的操作力即可操作的、寿命长的触头。

另一方面，在将波纹体和可动部的连接位置配置于从可动部的轴心偏心的位置上的情况下，具有能够得到波纹体易于压曲、触点压力高的触头的效果。

附图说明

图1中图1A为表示本发明涉及的触头的第一实施方式的立体图，图1B、1C为表示动作前后的正面图。

图2中图2A为将图1所示的触头收纳于壳体内的正面图，图2B、2C为表示动作前后的正面截面图。

图3中图3A为表示本发明涉及的触头的第二实施方式的立体图，图3B、3C为表示动作前后的正面图。

图4中图4A为将图3所示的触头收纳于壳体内的正面图，图4B、4C为表示动作前后的正面截面图。

图5中图5A、5B、5C为表示第一实施方式的动作过程的正面图，图5D为图5C的局部放大图，图5E为表示测定位移量和接触电阻值的关系后的结果的曲线图。

具体实施方式

根据图1至图4的附图，说明本发明涉及的触头的实施方式。