[发明专利]接近传感器有效
申请号: | 201280041037.8 | 申请日: | 2012-08-29 |
公开(公告)号: | CN103748793B | 公开(公告)日: | 2016-10-26 |
发明(设计)人: | K·邝;R·H·M·迪恩;B·J·珀佩;D·W·加维斯;J·M·科莱;B·R·兰德;A·若爱 | 申请(专利权)人: | 苹果公司 |
主分类号: | G01S17/02 | 分类号: | G01S17/02;G01S7/481;G01J1/02;G01J1/04;G01J1/06;H01L31/0216;H01L31/0232;H01L31/167;H01L31/173 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 鲍进 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接近 传感器 | ||
1.一种用于检测在便携式电子设备的保护层的外表面的第一距离内物体的存在的接近传感器,包括:
光发射设备,所述光发射设备被布置成在向外且远离所述便携式电子设备的方向上发射处于主用频率的光;
光检测设备,所述光检测设备被布置成检测至少处于所述主用频率的光;
准直器,所述准直器被放置在所述光检测设备与所述光发射设备之间,所述准直器使得由所述光发射设备发射的光的相当大一部分以低入射角射到所述便携式电子设备的所述保护层,由此减少从所述保护层的所述内表面反射且被所述光检测设备检测到的发射光的量;
过滤层,所述过滤层被施加至所述保护层的所述内表面,所述过滤层被布置成过滤掉除所述主用频率之外的频率的光,由此显著地降低所述光检测设备检测到除所述主用频率的光之外的光的可能性;以及
均匀透明结构,所述均匀透明结构被施加至所述过滤层的内表面,所述均匀透明结构具有与所述接近传感器一致的尺寸和形状,所述均匀透明结构被布置成吸收入射在所述均匀透明结构上的基本上所有光,由此减少被光检测设备检测到的与从所述物体反射的光不相关联的光的量。
2.根据权利要求1所述的接近传感器,其中所述主用频率为红外的(IR)。
3.根据权利要求1所述的接近传感器,其中至少所述光发射设备被放置成与所述保护玻璃的所述内表面相距第二距离,所述第二距离足够长以至于由所述光发射设备发射的光的大部分以所述低入射角射到所述保护层的所述内表面上,由此显著地减少被所述光检测设备检测到的反射光。
4.根据权利要求1所述的接近传感器,其中所述准直器包括:
基座部分;以及
成型的上部,所述成型的上部由所述基座部分一体成型,所述成型的上部具有边缘形状,所述边缘形状使得来自所述光发射设备的光中只有选定的部分被所述光检测设备检测到,由此减少所述光发射设备与所述光检测设备之间的串扰的量。
5.根据权利要求2所述的接近传感器,其中所述过滤层包含红外透明油墨。
6.根据权利要求1所述的接近传感器,其中所述均匀透明结构为光学透明结构。
7.根据权利要求1所述的接近传感器,其中所述均匀透明结构具有椭圆形形状。
8.根据权利要求1所述的接近传感器,其中所述光发射设备位于与所述保护层相距准直距离处,所述准直距离为使得来自所述光发射设备的光在入射在所述保护层的所述内表面上时基本上准直的距离。
9.一种制造用于在具有保护层的便携式电子设备中使用的接近传感器的方法,所述接近传感器用于检测在所述保护层的外表面的第一距离内物体的存在,所述方法包括:
提供基板;
将光发射设备附接到所述基板,所述光发射设备被布置成在向外且远离所述便携式电子设备的方向上发射处于主用频率的光;
与所述光发射设备邻近地将光检测设备附接到所述基板,所述光检测设备被布置成检测至少处于所述主用频率的光;
在所述光发射设备与所述光检测设备之间将准直器附接到所述基板,所述准直器使得由所述光发射设备发射的光的相当大一部分以低入射角射到所述保护层的内表面;
在所述保护层的所述内表面上放置过滤层,所述过滤层被布置成过滤掉除所述主用频率之外的频率的光,由此显著地降低所述光检测设备检测到除所述主用频率的光之外的光的可能性;以及
放置施加至所述过滤层的内表面的均匀透明结构,所述光学不透明层具有与所述接近传感器一致的尺寸和形状,所述光学不透明层被布置成吸收入射在所述光学不透明层上的基本上所有光,由此减少被光检测设备检测到的与从所述物体反射的光不相关联的光的量。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述主用频率为红外的(IR)。
11.根据权利要求10所述的方法,其中至少所述光发射设备被放置成与所述保护玻璃的所述内表面相距第二距离,所述第二距离足够长以至于由所述光发射设备发射的光的大部分以所述低入射角射到所述保护层的所述内表面上,由此显著地减少被所述光检测设备检测到的反射光。
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