[发明专利]目标粒子的检测方法有效
申请号: | 201280041270.6 | 申请日: | 2012-06-28 |
公开(公告)号: | CN103765194A | 公开(公告)日: | 2014-04-30 |
发明(设计)人: | 叶梨拓哉 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 目标 粒子 检测 方法 | ||
1.一种目标粒子的检测方法,其特征在于,
其为检测在溶液中分散并随机运动的粒子的方法,具有:
(a)调制包含目标粒子、与所述目标粒子结合的发光探针和分离回收用粒子的溶液、或者包含结合有所述发光探针的所述目标粒子、所述发光探针和所述分离回收用粒子的溶液,在该溶液中,形成由所述目标粒子、所述发光探针和所述分离回收用粒子形成的复合体的工序;
(b)在所述工序(a)之后,从所述溶液中通过固液分离处理回收所述分离回收用粒子,调制包含该分离回收用粒子的试样溶液的工序;和
(c)算出所述工序(b)中调制的试样溶液中存在的所述复合体的分子数的工序,
所述分离回收用粒子与由所述目标粒子和所述发光探针形成的结合体结合,如下进行所述工序(c)的所述复合体的分子数的计数:
使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统,移动所述光学系统的光检测区域的位置的工序;
一边在所述试样溶液内移动所述光学系统的光检测区域的位置,一边检测由该光检测区域中的所述复合体发出的光的工序;
由所述检测到的光逐个检测来自每个复合体的光信号而逐个检测复合体的工序;和
对所述逐个检测到的复合体的个数进行计数而计数所述光检测区域的位置的移动中检测到的所述目标粒子的个数的工序。
2.根据权利要求1所述的目标粒子的检测方法,其中,所述分离回收用粒子在所述试样溶液中的沉降速度为1×10-6m/s以下。
3.根据权利要求1或2所述的目标粒子的检测方法,其中,在所述移动光检测区域的位置的工序中,所述光检测区域的位置沿着第二路径移动,所述第二路径的位置沿着第一路径移动。
4.根据权利要求3所述的目标粒子的检测方法,其中,所述第一路径以及第二路径为循环路径;沿着所述第二路径的所述光检测区域的位置的移动周期短于沿着所述第一路径的所述第二路径的位置的移动周期。
5.根据权利要求3或4所述的目标粒子的检测方法,其中,
所述光检测区域的位置的移动周期τ1、所述第二路径的位置的移动速度v2、和所述光检测区域的直径d满足:
v2·τ1>d。
6.根据权利要求3~5的任一项所述的目标粒子的检测方法,其中,通过改变所述光学系统的光路而使所述光检测区域的位置沿着所述第二路径移动;通过移动所述试样溶液的位置而使所述试样溶液内的所述第二路径的位置沿着所述第一路径移动。
7.根据权利要求3~6的任一项所述的目标粒子的检测方法,其中,所述第二路径为圆形或椭圆形,所述第一路径为圆形、椭圆形或直线。
8.根据权利要求1~7的任一项所述的目标粒子的检测方法,其中,在所述移动光检测区域的位置的工序中,所述光检测区域的位置以比所述复合体的扩散移动速度更快的速度移动。
9.根据权利要求1~8的任一项所述的目标粒子的检测方法,其中,在由所述检测到的光逐个检测来自每个复合体的光信号而逐个检测复合体的工序中,根据检测到的按照时间顺序的光信号的形状,检测到一个复合体进入了所述光检测区域。
10.根据权利要求1~9的任一项所述的目标粒子的检测方法,其中,所述分离回收用粒子为磁性粒子。
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