[发明专利]接近度传感器校准有效

专利信息
申请号: 201280041534.8 申请日: 2012-08-06
公开(公告)号: CN103782194A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 利奥尼德·希亚恩布拉特;契纳·巴亚普雷迪;吴勇澈 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: G01S17/32 分类号: G01S17/32;G01B11/02
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 宋献涛
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 接近 传感器 校准
【权利要求书】:

1.一种方法,其包括:

在传感器处检测针对表面而反射的信号的峰强度;以及

至少部分地基于将所述检测到的峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述检测所述峰强度进一步包括响应于检测到所述表面针对所述传感器的物理触碰而检测所述峰强度。

3.根据权利要求2所述的方法,其中所述传感器包括触摸屏。

4.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括至少部分地基于所述峰强度而从多个参考曲线中选择所述参考曲线。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述检测所述峰强度进一步包括响应于检测到用户接口处的选择而检测所述峰强度。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述参考曲线界定从所述表面反射和接收的能量强度与从所述传感器到所述表面的所述范围之间的关系。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述峰强度在距所述表面特定范围处发生,其中所述特定范围与所述表面的颜色大体上无关。

8.根据权利要求1所述的方法,其中检测所述峰强度进一步包括响应于接收到来自触摸屏的信号而对在所述传感器处接收的强度或功率进行取样。

9.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:

至少部分地基于所述近似的函数而后续测量到所述表面的所述范围;以及

至少部分地基于所述测得范围而激活或减活显示器的背光照明。

10.根据权利要求1所述的方法,其中所述表面包括用户的头部的一部分。

11.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括在到所述表面的所述范围变化的同时测量所述峰强度。

12.一种设备,其包括:

传感器,其用以检测针对表面而反射的信号的峰强度;以及

处理器,其用以至少部分地基于将所述峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数。

13.根据权利要求12所述的设备,其中所述参考曲线界定从所述表面反射和接收的能量强度与从所述传感器到所述表面的所述范围之间的关系。

14.根据权利要求12所述的设备,其中所述峰强度在距所述表面特定范围处发生,且所述特定范围与所述表面的反射率大体上无关。

15.根据权利要求12所述的设备,其进一步包括:

发射器,其用以向所述表面发射能量;

检测器,其用以检测从所述表面反射的所述能量的至少一部分;以及

模/数转换器ADC,其用以至少部分地基于从所述表面反射和接收的所述能量的检测到的所述部分而产生所述峰强度。

16.根据权利要求15所述的设备,其中所述峰强度发生的范围是至少部分地基于所述发射器与光检测器之间的分离。

17.根据权利要求12所述的设备,其进一步包括触摸屏,所述触摸屏用以产生信号来起始所述近似所述函数。

18.根据权利要求12所述的设备,其进一步包括:

显示器;以及

电子器件,其用以至少部分地基于所述范围而激活或减活所述显示器的背光照明。

19.根据权利要求12所述的设备,其中所述表面包括用户的头部的一部分。

20.一种设备,其包括:

在传感器处用于检测针对表面而反射的信号的峰强度的装置;以及

用于至少部分地基于将所述检测到的峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数的装置。

21.根据权利要求20所述的设备,其中所述用于检测所述峰强度的装置进一步包括用于响应于检测到所述表面针对所述传感器的物理触碰而检测所述峰强度的装置。

22.根据权利要求21所述的设备,其中所述传感器包括触摸屏。

23.根据权利要求20所述的设备,其进一步包括用于至少部分地基于所述峰强度而从多个参考曲线中选择所述参考曲线的装置。

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