[发明专利]对径向采样图像数据集中的角向一致伪影的多步校正有效
申请号: | 201280042824.4 | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN103814303A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 柯蒂斯·A·科勒姆;乔达特·S·伊迪亚图林;斯蒂恩·莫勒;迈克尔·G·加伍德 | 申请(专利权)人: | 明尼苏达大学董事会 |
主分类号: | G01R33/565 | 分类号: | G01R33/565 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 康建峰;杨华 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 径向 采样 图像 数据 集中 一致 校正 | ||
1.一种方法,包括:
接收包括对象的径向采样投影的图像数据;
使用处理器、使用所述图像数据并且使用第一比率计算第一校正数据集,所述第一比率基于所述图像数据的平均投影并且基于所述图像数据的经滤波的平均投影;并且
使用所述第一校正数据集并且使用第二比率计算第二校正数据集,所述第二比率基于所述第一校正数据集的平均投影以及所述第一校正数据集的经滤波的平均投影。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,计算所述第二校正数据集包括使用所述第二比率的倒数。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,计算所述第二校正数据集包括使用加权因子相乘。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,确定所述经滤波的平均投影包括使用低通滤波器。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,接收图像数据包括接收使用SWIFT协议生成的磁共振数据。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括使用所述第二校正数据集来生成经校正的图像。
7.一种系统,包括:
存储器,所述存储器被配置成接收对应于对象的径向投影的图像数据;以及
处理器,所述处理器耦接到所述存储器,所述处理器被配置成计算第一校正数据集并且计算第二校正数据集,其中,使用所述图像数据并且使用第一比率计算所述第一校正数据集,所述第一比率基于所述图像数据的平均投影并且基于所述图像数据的经滤波的平均投影,并且其中,使用所述第一校正数据集并且使用第二比率计算所述第二校正数据集,所述第二比率基于所述第一校正数据集的平均投影以及所述第一校正数据集的经滤波的平均投影。
8.根据权利要求7所述的系统,其中,所述处理器被配置成使用频域中的乘法或时域中的卷积中的至少一个来计算所述第一校正数据集或所述第二校正集中的至少一个。
9.根据权利要求7所述的系统,其中,所述处理器被配置成执行用于估算被提供给所述对象的激励信号中的持续失真的算法。
10.根据权利要求7所述的系统,其中,所述处理器被配置成实施低通滤波器。
11.一种机器可读介质,所述机器可读介质上存储有机器可执行指令,所述机器可执行指令使得一个或多个处理器执行操作,所述操作包括:
接收包括对象的径向采样投影的图像数据;
使用处理器、使用所述图像数据并且使用第一比率计算第一校正数据集,所述第一比率基于所述图像数据的平均投影并且基于所述图像数据的经滤波的平均投影;以及
使用所述第一校正数据集并且使用第二比率计算第二校正数据集,所述第二比率基于所述第一校正数据集的平均投影以及所述第一校正数据集的经滤波的平均投影。
12.根据权利要求11所述的机器可读介质,其中,接收所述图像数据包括接收对应于绝热脉冲的磁共振数据。
13.根据权利要求11所述的机器可读介质,其中,确定所述经滤波的平均投影包括估算。
14.根据权利要求11所述的机器可读介质,其中,确定所述经滤波的平均投影包括实施低通滤波器。
15.根据权利要求11所述的机器可读介质,还包括基于所述第二校正数据集来生成经校正的图像。
16.根据权利要求11所述的机器可读介质,其中,接收所述图像数据包括接收使用SWIFT协议生成的磁共振数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于明尼苏达大学董事会,未经明尼苏达大学董事会许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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