[发明专利]发射和透射光谱仪

权利要求书

1.一种用于透射和发射光谱法的光学仪器，包括：

光谱仪外壳，该光谱仪外壳具有安置在所述光谱仪外壳的壁内的单个样品区室；

联接到所述单个样品区室的附件，所述附件进一步包括激励源，该激励源被配置成从联接到第一样品平台位置的样品产生发射；

第二样品平台位置，该第二样品平台位置从所述第一样品平台位置偏移以便被配置成用于红外(IR)透射操作；

红外(IR)辐射源；

干涉仪，该干涉仪被适配成沿着设计的光路以便对所述发射或者从所述红外(IR)辐射源接收的光进行调制；

第一光学元件，该第一光学元件被配置成用于将沿着所述设计的光路接收的发射引导到发射检测器，或被配置成沿着所述设计的光路引导所述红外(IR)辐射源；以及

第二光学元件，该第二光学元件被配置成接收透射穿过联接到所述第二样品平台位置的样品的被引导的红外(IR)光，并进一步被适配成将从其透射穿过的所述红外(IR)光引导到达一个或多个红外(IR)探测器。

2.如权利要求1所述的光学仪器，其中，与所述附件配置在一起的所述激励源包括被配置成提供从630nm最高达2400nm的发射波长的源。

3.如权利要求2所述的光学仪器，其中，与所述附件配置在一起的所述激励源包括被配置成提供在约1064nm的发射波长的二极管激光器。

4.如权利要求1所述的光学仪器，其中，通过从所述激励源接收的光学光的相互作用所诱导的所述发射包括选自荧光和拉曼光的至少一种感应发射，其中，所述样品联接至第一样品平台位置。

5.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述附件进一步包括中密度滤光器以对由所述激励源导致的功率进行调整。

6.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述附件进一步包括与所述激励源配置在一起的散焦透镜，以便减小联接到所述第一样品平台位置的所述样品处的功率密度。

7.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述附件进一步包括所希望的带通滤光器以去除放大的受激发射和光谱伪像。

8.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述附件进一步包括白光照明源，该白光照明源被配置成用于使联接到所述第一样品平台位置的所述样品的询问或联接到所述第一样品平台位置的所述样品的对齐成为可能，以使发射能够沿着所希望的光路被引导。

9.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述附件进一步包括一个或多个边缘滤光器，从而使得所希望的经过滤的发射被预定的折叠式光学器件从所述附件出来并沿着所述设计的光路引导。

10.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述一个或多个红外(IR)探测器包括光电二极管、液氮冷却的CCD相机、二维阵列探测器和光电倍增器中的至少一个。

11.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述一个或多个红外(IR)探测器包括CCD。

12.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述一个或多个红外(IR)探测器包括雪崩CCD光电二极管和能够逐点扫描的光电二极管中的至少一个。

13.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述发射检测器包括拉曼检测器。

14.如权利要求13所述的光学仪器，其中，所述拉曼检测器包括锗检测器。

15.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述第一和所述第二光学元件进一步包括齿轮传动的反射器。

16.如权利要求15所述的光学仪器，其中，所述齿轮传动的反射器进一步包括光反射表面，该光反射表面具有选择下列的至少一个表面：椭圆表面、抛物面型表面、环形表面、和平坦表面。

17.如权利要求1所述的光学仪器，其中，所述光学仪器被配置成用于以至少0.125cm^-1的光谱分辨率在远红外中150cm^-1到400cm^-1、中红外中从400cm^-1到4000cm^-1、以及在近红外中从4000cm^-1到10000cm^-1的红外线光谱范围内进行测量。

18.如权利要求1所述的光学仪器，其中，借助所述附件所述光学仪器被配置成以至少0.8cm^-1的光谱分辨率在从50cm^-1到4000cm^-1的范围对多个拉曼信号进行测量。