[发明专利]用于探测在目标物上的至少一个周期性出现的缺陷的设备和方法

权利要求书

1.一种用于探测在目标物（3）上，尤其是在金属带上的至少一个周期性出现的缺陷（8）的方法，在所述方法中，用测量法从运动的目标物（3）上采集至少一个时间信号（7），将所述时间信号（7）在使用随机方法的情况下转换成质量函数（9），并且在所述质量函数（9）的基础上推导出时间信号（7）中的一个或多个周期性的信号（7’），以便因此确定在所述目标物（3）上的至少一个周期性出现的缺陷（8），其特征在于，将由尤其是电磁式测量法采集的所述时间信号（7）在使用基于模型的估计方法，尤其是使用最大似然法的情况下转换成所述质量函数（9）。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于模型的估计方法中，考虑缺陷特异信号（7’）的至少一个特征，尤其是考虑针对所述缺陷特异信号的信号走向的数学模型（f_fehler）。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，使所述时间信号（7）经过积分变换，尤其是傅里叶变换。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，对于磁感应测量法，将电磁式传感器（4）借助至少一个气垫（12）定位在所述目标物（3）的上方。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，应用至少两个从所述目标物（3）测得的时间信号（7）或者应用时间信号（7）的至少两个不同的时间区域，以识别出并且在所述方法中抑制在所述两个时间信号（7）中或者在所述时间信号（7）的所述两个时间区域中存在的至少一个干扰。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法通过自适应滤波方式来抑制所述干扰。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，对于所述测量法，使传感器（4）运动经过所述目标物（3）的宽度（20），其中，在所述传感器（4）继续运动之前，在所述传感器（4）的运动位置（22）内采集至少一个时间信号（7）。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，对于所述测量方式，多个互相错开地布置的传感器（4、23）朝向所述目标物（3）布置，并且分别从所述目标物（3）采集时间信号（7）。

9.一种基于模型的估计方法，尤其是最大似然法的用途，用于对从运动的目标物（3）借助电磁式的测量法采集的时间信号（7）进行质量函数（9）的换算以探测在目标物（3）上周期性出现的缺陷（8）。

10.一种用于探测至少一个在运动的目标物（3）上，尤其是在金属带上周期性出现的缺陷（8）的设备，所述设备带有：用于采集至少一个从目标物（3）测量到的时间信号的传感器装置（4’），与所述传感器装置连接的、具有存储器（18）和计算单元（5）的计算装置（5’），用于在使用随机方法的情况下将所述时间信号（7）转换成质量函数（9），并且用于在所述质量函数（9）的基础上推导出时间信号中的至少一个周期性的信号（7’），以便因此确定在所述目标物（3）上的至少一个周期性出现的缺陷（8），其特征在于，所述存储器（18）具有用于基于模型的估计方法，尤其是最大似然法的数据（16），其中，所述计算单元（5）与所述存储器（18）连接以在使用所述基于模型的估计方法，尤其是使用最大似然法的情况下将尤其是通过电磁式的测量法采集的时间信号（7）转换成所述质量函数（9）。

11.根据权利要求10所述的设备，其特征在于，所述存储器（18）具有针对缺陷特异信号（7’）的至少一个特征的数据（17），尤其是针对所述缺陷特异信号（7’）的信号走向的数学模型（f_fehler），其中，所述计算单元（5）与所述存储器（18）连接以在所述用于探测周期性出现的缺陷（8）的方法中考虑这个特征。

12.根据权利要求10或11所述的设备，其特征在于，所述传感器装置（4’）从所述目标物（3）测量至少两个时间信号（7），并且所述设备（1）具有与所述传感器装置（4’）连接的、用于抑制在所述两个时间信号（7）中存在的至少一个干扰的自适应滤波器（28）。