[发明专利]输入装置、显示装置以及电子设备有效
申请号: | 201280045131.0 | 申请日: | 2012-09-26 |
公开(公告)号: | CN103827786B | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 中山匡仁;鹤崎幸二;古江纯司;芦田裕一;南孝志;宫崎吉雄 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张宝荣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 输入 装置 显示装置 以及 电子设备 | ||
技术领域
本发明涉及输入装置、显示装置以及电子设备。
背景技术
作为输入装置,例如公知有捕捉手指与检测电极之间的静电电容的变化而检测输入位置的静电电容方式的触摸面板(例如,参照专利文献1以及2)。
这样的输入装置具备具有主面的基体、设于基体的主面且沿着第一方向排列的第一检测电极、以及设于基体的主面且沿着第二方向排列的第二检测电极。另外,输入装置具备设于基体的主面且连接相邻的第一检测电极的第一连接电极、设于基体的主面且位于第一连接电极上的绝缘层、以及设于绝缘层且连接相邻的第二检测电极的第二连接电极。
然而,在上述的输入装置中,由于在基体的主面上直接设置第一检测电极、第二检测电极以及第一连接电极,因此有可能降低基体的强度。
专利文献1:日本特开2008-97283号公报
专利文献2:日本特开2008-310551号公报
发明内容
本发明是鉴于上述的问题点而作出的,其目的在于提供能够降低基体的强度下降的可能性的输入装置、显示装置以及电子设备。
本发明的输入装置的一技术方案在于,该输入装置具备:基体,其具有主面;第一检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第一方向排列;第二检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第二方向排列;第一连接电极,其设置在所述基体的所述主面上,并连接相邻的所述第一检测电极;第一绝缘层,其设置在所述基体的所述主面上,并位于所述第一连接电极上;第二连接电极,其设置在所述第一绝缘层上,并连接相邻的所述第二检测电极;第二绝缘层,其设置在所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面之间,使所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面分离。
本发明的显示装置的一技术方案在于,该显示装置具备上述的输入装置、与所述输入装置对置配置的显示面板以及收容所述显示面板的框体。
本发明的电子设备中的一技术方案具备上述的显示装置。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式的输入装置的概略结构的俯视图。
图2是沿着图1中所示的剖切线I-I进行剖切的剖视图。
图3是沿着图1中所示的剖切线II-II进行剖切的剖视图。
图4(a)是利用扫描式电子显微镜来观察玻璃基板的剖面的图。图4(b)是表示利用电子显微分析来分析玻璃基板的剖面的结果、即钾离子的浓度分布的图。
图5(a)是利用扫描式电子显微镜来观察玻璃基板的剖面的图。其中,图5(a)在主面的一部分上设有电极。图5(b)是表示利用电子显微分析来分析玻璃基板的剖面的结果、即钾离子的浓度分布的图。其中,图5(b)也在主面的一部分设有电极。
图6是表示利用电子显微分析来分析玻璃基板的剖面的结果、即钾离子的浓度分布的图。其中,图6在玻璃基板的主面上设置绝缘层,在该绝缘层上设置电极。
图7是沿着图1中所示的剖切线III-III进行剖切的剖视图。
图8是表示上述输入装置的另一例子的剖视图,是表示与图7相同的部分的图。
图9是表示上述输入装置的又一例子的剖视图,是表示与图7相同的部分的图。
图10是表示上述输入装置的又一例子的剖视图,是表示与图7相同的部分的图。
图11是表示本发明的第一实施方式的显示装置的概略结构的剖视图。
图12是表示本发明的第一实施方式的移动终端的概略结构的立体图。
图13是表示本发明的第二实施方式的输入装置的概略结构的俯视图。
图14是沿着图13中所示的剖切线IV-IV进行剖切的剖视图。
图15是沿着图13中所示的剖切线V-V进行剖切的剖视图。
图16是表示本发明的第三实施方式的输入装置的概略结构的俯视图。
图17是沿着图16中所示的剖切线VI-VI进行剖切的剖视图。
图18是沿着图16中所示的剖切线VII-VII进行剖切的剖视图。
图19是表示上述输入装置的另一例子的剖视图,是表示与图17相同的部分的图。
图20是表示上述输入装置的另一例子的剖视图,是表示与图18相同的部分的图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施方式进行说明。
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