[发明专利]从装置、主装置及通信方法有效
申请号: | 201280045774.5 | 申请日: | 2012-01-20 |
公开(公告)号: | CN103814363A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 道簱聪;丸山清泰;三木智子;福田智教;田中一弘 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G06F13/00 | 分类号: | G06F13/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;龚晓娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 通信 方法 | ||
技术领域
本发明涉及依照IIC(Inter Integrated Circuit:集成电路总线)协议进行通信的从装置、主装置以及通信方法。
背景技术
一直以来,采用了使用IIC协议的通信方式,即用被称作SCL的串行时钟线和被称作SDA的串行数据线这两条信号线进行电子设备内的器件彼此的通信。在IIC通信中,从装置在命令处理中将SCL的信号固定为低电平,作为忙状态,从而能够保留向主装置的数据发送。
但是,在从装置无法正常接收从主装置发送的SCL的信号和SDA的信号的情况下,从装置有时将SCL的信号固定为低电平。针对于此,在专利文献1中记载了由用于通知产生了异常的通知线连接主装置与从装置之间的通信系统。在专利文献1所记载的通信系统中,在由对IIC通信中产生的异常进行检测的检测手段检测到异常的情况下,一方的器件经由该通知线向另一方的器件通知异常的产生。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2011-70282号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在专利文献1所记载的通信系统中,在SCL的信号在规定时间以上维持规定电平的情况下,检测为异常的产生。但是,在从装置中,将SCL的信号维持在低电平的时间根据从主装置接收到的命令的内容而不同,因此根据命令的内容,有时会错误检测为异常的产生,从而在正常动作中进行器件的复原处理。
因此,本发明的目的在于防止错误检测为异常产生。
用于解决课题的手段
本发明的一个方式的从装置是依照IIC协议在从模式下进行动作的从装置,其特征在于,具有:参数设定部,其针对从主装置发送的每个命令的内容,设定不同的值,作为用于检测异常的参数的值,其中该主装置依照所述IIC协议在主模式下进行动作;以及异常检测部,其通过对与所述参数设定部设定的参数的值对应的时间、和在根据所述命令进行的处理中计测出的时间进行比较来检测异常。
此外,本发明的一个方式的主装置是依照IIC协议在主模式下进行动作的主装置,其特征在于,具有:参数设定部,其针对发送给从装置的每个命令的内容,设定不同的值,作为用于检测异常的参数的值,其中该从装置依照所述IIC协议在从模式下进行动作;以及异常检测部,其通过对与所述参数设定部设定的参数的值对应的时间、和在根据所述命令进行的处理中计测出的时间进行比较来检测异常。
并且,本发明的一个方式的通信方法是依照IIC协议在从模式下进行动作的从装置执行的通信方法,其特征在于,具有:参数设定步骤,针对从主装置发送的每个命令的内容,设定不同的值,作为用于检测异常的参数的值,其中该主装置依照所述IIC协议在主模式下进行动作;以及异常检测步骤,通过对由所述参数设定步骤设定的参数的值对应的时间、和在根据所述命令进行的处理中计测出的时间进行比较来检测异常。
而且,本发明的一个方式的通信方法是依照IIC协议在主模式下进行动作的主装置执行的通信方法,其特征在于,具有:参数设定步骤,针对发送给从装置的每个命令的内容,设定不同的值,作为用于检测异常的参数的值,其中该从装置依照所述IIC协议在从模式下进行动作;以及异常检测步骤,通过对与由所述参数设定步骤设定的参数的值对应的时间、和在根据所述命令进行的处理中计测出的时间进行比较来检测异常。
发明效果
根据本发明的一个方式,能够防止对异常的误检测。
附图说明
图1是示出实施方式1~4的通信系统的结构的概略图。
图2是概略地示出实施方式1中的主装置的结构的框图。
图3是概略地示出实施方式1中的从装置的结构的框图。
图4是概略地示出实施方式1中的命令保持部的结构的框图。
图5是概略地示出实施方式1和3中的异常检测部的结构的框图。
图6是示出在实施方式1中主装置发出读的命令而取得数据时的序列的概略图。
图7是示出在实施方式1中主装置发出写的命令而送出数据时的序列的概略图。
图8是示出实施方式1的从装置中的处理的流程图。
图9是概略地示出实施方式2中的从装置的结构的框图。
图10是概略地示出实施方式2和4中的异常检测部的结构的框图。
图11是示出实施方式2的从装置中的处理的流程图。
图12是概略地示出实施方式3中的主装置的结构的框图。
图13是示出实施方式3的主装置中的处理的流程图。
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