[发明专利]从激光器动态自适应地生成波长连续的且规定的波长对时间的扫描的系统和方法

权利要求书

1.一种扫描激光器系统（10，20），包括：

激光源（12）；

激光器控制单元（16），所述激光器控制单元（16）与所述激光源操作地联接；和

处理器（14），所述处理器（14）配置所述激光控制单元以控制所述激光源，从而实现遵循一组规定的扫描性能特征。

2.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，还包括与所述处理器联接的扫描性能监控装置（18，26），其中，所述扫描性能监控装置被配置成监控在扫描期间与所述激光源的输出相关联的至少一种物理特性。

3.根据权利要求2所述的扫描激光器系统，其中，所述至少一种物理特性为选自波长、光学功率、边模抑制比和相位的至少一种。

4.根据权利要求2所述的扫描激光器系统，其中，所述扫描性能监控装置包括选自波长监控装置、光学功率监控装置、相位监控装置、电压监控装置和电流监控装置的至少一种装置。

5.根据权利要求2所述的扫描激光器系统，其中，所述扫描性能监控装置包括用于测量光学功率对波长或者边模抑制比的光学功率监控器。

6.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述激光源为半导体激光器，所述半导体激光器用于离散地输出在波长范围内的辐射。

7.根据权利要求6所述的扫描激光器系统，其中，所述处理器被配置成最小化在所述范围内输出的辐射中的波长不连续性。

8.根据权利要求6所述的扫描激光器装置，其中，所述处理器被配置成当激光器从一个单纵模调谐到另一单纵模时，减少所述激光器的波长变化的大小。

9.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述规定的扫描性能特征包括波长和时间之间的线性关系。

10.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述规定的扫描性能特征包括光学频率和时间之间的线性关系。

11.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述规定的扫描性能特征包括波长和时间之间的非线性关系以补偿介质中的效应。

12.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述规定的扫描性能特征包括功率对时间的扫描，所述功率对时间的扫描相对于波长是恒定的。

13.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述规定的扫描性能特征包括功率对时间的扫描，所述功率对时间的扫描相对于波长是高斯分布的。

14.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述规定的扫描性能特征模仿快速傅里叶变换窗函数。

15.根据权利要求1所述的扫描激光器系统，其中，所述规定的扫描性能特征补偿频率和/或波长的光学系统损失。

16.一种用于控制半导体激光源（12）输出波长范围内的辐射的方法，所述方法包括：

从半导体激光源输出波长范围内的辐射，其中，所述半导体激光源配置成接收输入信号以离散地改变所述波长范围内的辐射；

检测与至少一种物理性能相关的数据，所述至少一种物理性能与所述波长范围内的辐射相关；

处理所述数据且改变对于所述半导体激光源的输入信号以实现遵循一组规定的扫描性能特征。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述数据被处理以最小化在激光器的所述范围内的扫描中的波长不连续性的数目。

18.根据权利要求17所述的方法，还包括以恒定的单纵模调谐所述激光器。

19.根据权利要求16所述的方法，其中，所述数据被处理，以当所述激光器从一个单纵模调谐到另一单纵模时减少所述半导体激光源的波长大小变化。

20.根据权利要求16所述的方法，其中，检测与所述波长范围内的辐射相关的至少一种物理特性相关联的数据，处理所述数据且改变对于所述半导体激光源的输入信号以实现遵循一组规定的扫描性能特征。