[发明专利]显示器变形检测

权利要求书

1.一种检测显示面板的变形的方法，包括：

检测设置在所述显示面板内或覆盖在所述显示面板上的导电网的基线电阻或基线电容或基线电阻和基线电容两者的变化；

计算发生所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化的变化位置；以及

计算所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化的大小。

2.根据权利要求1所述的方法，包括通过高通滤波器过滤所述基线电阻或所述基线电容或两者的低频变化。

3.根据权利要求1所述的方法，包括：

通过加速器检测所述显示面板的运动；以及

在检测所述显示面板的所述运动时，检测所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化。

4.根据权利要求1所述的方法，包括将所述变形大小与所述显示面板的跌落相关联。

5.根据权利要求1所述的方法，包括至少部分地基于所述变形来确定触摸命令。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述触摸命令包括与所述变化位置相关联的所述触摸命令的位置以及与所述变化的大小相关联的所述触摸命令的力两者。

7.根据权利要求1所述的方法，包括在所述显示面板的设计过程期间监测所述显示面板的所述变形。

8.根据权利要求1所述的方法，将所述变化位置与变形位置相关联。

9.根据权利要求1所述的方法，包括将所述变化的所述大小与变形大小相关联。

10.根据权利要求1所述的方法，包括测量所述基线电阻或所述基线电容或两者。

11.一种显示器变形检测系统，包括：

显示器，所述显示器被配置成提供图形图像；

导电网，所述导电网设置在所述显示器之上或之中，具有基线电阻和基线电容；和

变形检测电路，所述变形检测电路被配置成：

确定所述导电网的所述基线电阻或所述基线电容或两者；

检测所述导电网的至少一部分中的所述基线电阻或所述基线电容或两者的变化；

存储与所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化相关的变化信息；以及

将所述变化信息与所述显示器的变形相关联。

12.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，其中所述变形检测电路被配置成检测所述基线电阻的微欧级的变化。

13.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，其中所述变形检测电路被配置成检测所述基线电容的微欧级的变化。

14.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，其中所述变形检测电路被配置成：

存储电阻的所述变化或电容的所述变化或电阻的所述变化和电容的所述变化两者的位置和大小；

基于所述基线电阻的所述变化或所述基线电容的所述变化或所述基线电阻的所述变化和所述基线电容的所述变化两者的所述位置计算变形位置；以及

基于所述基线电阻的所述变化或所述基线电容的所述变化或所述基线电阻的所述变化和所述基线电容的所述变化两者的所述大小计算变形大小。

15.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，其中所述导电网包括所述显示面板的公用电压层，所述公用电压层被配置成将公用电压提供至所述显示面板的公用电极。

16.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，包括被配置成检测所述显示面板的跌落的加速器，其中所述显示器变形检测电路被配置成在检测到所述跌落时检测所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化。

17.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，其中所述显示器变形检测电路被配置成以周期性的轮询增量来检测所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化。

18.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，其中所述显示器变形检测电路被配置成以周期性的间隔来移除所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化的所述已存储位置和所述已存储大小。

19.根据权利要求11所述的显示器变形检测系统，其中所述显示器变形检测电路被配置成以周期性的间隔来确定所述基线电阻或所述基线电容或两者。