[发明专利]废金属分选

权利要求书

1.一种用于加工废金属的方法，其包括以下步骤：

用至少一种流体处理废金属以去除表面涂层，

对废金属组成进行光谱分析，

根据所述废金属的组成对废金属材料进行分选，和

处理所述流体，目的在于回收所述表面涂层中所含的金属。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述表面涂层含有锌或锡。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于所述流体是酸性或碱性溶液。

4.根据权利要求1到3中任一权利要求所述的方法，其特征在于所述光谱分析通过激光光谱法、X射线荧光光谱法或光电子光谱法来进行。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于所述光谱分析通过激光诱导击穿光谱法（LIBS）来进行。

6.根据权利要求1到5中任一权利要求所述的方法，其特征在于对废金属的分选以自动化方式进行。

7.根据权利要求1到6中任一权利要求所述的方法，其特征在于对废金属片的分选取决于某些合金成分的含量在每种情况下都不超过规定上限或者位于预定范围内的这一要求进行。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于分选需要遵守上限的金属是锌、锡、锰、铜、铬、镍、钼、铌和/或钒。

9.根据权利要求1到8中任一权利要求所述的方法，其特征在于所述废金属是由废钢组成。

10.根据权利要求1到9中任一权利要求所述的方法，其特征在于对所述废金属的组成进行的所述光谱分析在废料片移动、优选地以至少2m/s的速度移动时进行。

11.根据权利要求1到10中任一权利要求所述的方法，其特征在于在用至少一种流体处理之后分离所述废料片。

12.根据权利要求1到11中任一权利要求所述的方法，其特征在于在所述光谱分析之前，确定所述废料片的位置以及确定所述废料片的空间信息且尤其是所述废料片的形状/形式，其中基于如此确定的位置和获得的空间信息，自动确定在所述废料片上可以对组成进行光谱分析的位置。

13.根据权利要求1到12中任一权利要求所述的方法，其特征在于在所述光谱分析的框架内，对每片废料进行数次测量，并以自动化方式进行统计学评估。

14.根据权利要求1到13中任一权利要求所述的方法，其特征在于在所述光谱分析之后，自动分类所述废金属的所述成分，所述废金属的表面在用所述至少一种流体处理之后不再允许进行光谱分析。

15.根据权利要求1到14中任一权利要求所述的方法，其特征在于依据表面涂层的类型和/或其外观对所述废料片进行预分选。