[发明专利]移动体用非接触馈电装置有效

专利信息
申请号: 201280054749.3 申请日: 2012-09-07
公开(公告)号: CN103999324A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 阿部茂;保田富夫;铃木明;细井宣宏 申请(专利权)人: 株式会社泰库诺瓦
主分类号: H02J17/00 分类号: H02J17/00;B60L5/00;B60L11/18;B60M7/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 移动 体用 接触 馈电 装置
【权利要求书】:

1.一种移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

该移动体用非接触馈电装置具备输电线圈和隔着间隙与该输电线圈对置的受电线圈,所述输电线圈设置于地面侧,所述受电线圈设置于移动体侧,并通过电磁感应从所述输电线圈向所述受电线圈进行馈电,

所述移动体用非接触馈电装置具备异物检测单元,该异物检测单元计算标准值与测定值的差值,并基于所述差值来检测在所述输电线圈上有无金属异物,并在检测到所述金属异物时输出异物检测信号,所述标准值是在所述输电线圈上不存在金属异物的状态下向所述输电线圈供给异物检测用电力而预先求出的,所述测定值的向所述输电线圈供给所述异物检测用电力而求出的,

所述异物检测单元使用馈电损耗的值或者以包括馈电损耗的式子表示的值作为所述标准值以及测定值。

2.根据权利要求1所述的移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

在将所述输电线圈的输入电力设为PIN0、将所述受电线圈的输出电力设为PL0、将所述输电线圈的铜损设为Pc1、将所述受电线圈的铜损设为Pc2时,所述异物检测单元使用以(PIN0-PL0-Pc1-Pc2)表示的值作为所述标准值以及测定值。

3.根据权利要求1所述的移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

在将所述输电线圈的输入电力设为PIN0、将所述受电线圈的输出电力设为PL0、将所述输电线圈的铜损设为Pc1、将所述受电线圈的铜损设为Pc2、将所述输电线圈的铁损设为Pf1、将所述受电线圈的铁损设为Pf2时,所述异物检测单元使用以(PIN0-PL0-Pc1-Pc2-Pf1-Pf2)表示的值作为所述标准值以及测定值。

4.根据权利要求1所述的移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

向所述输电线圈供给所述异物检测用电力时,切断所述受电线圈与后续的整流器的连接。

5.一种移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

该移动体用非接触馈电装置具备输电线圈和隔着间隙与该输电线圈对置的受电线圈,所述输电线圈设置于地面侧,所述受电线圈设置于移动体侧,并通过电磁感应从所述输电线圈向所述受电线圈进行馈电,

所述移动体用非接触馈电装置具备异物检测单元,该异物检测单元计算标准值与测定值的差值,并基于所述差值来检测在所述输电线圈上有无金属异物,并在检测到所述金属异物时输出异物检测信号,所述标准值是在所述输电线圈上不存在金属异物的状态下向所述输电线圈供给异物检测用电力而预先求出的,所述测定值是向所述输电线圈供给所述异物检测用电力而求出的,

向不与所述受电线圈对置的所述输电线圈供给所述异物检测用电力,在将所述输电线圈的输入电力设为PIN0时,所述异物检测单元使用PIN0的值或者以包括PIN0的式子表示的值作为所述标准值以及测定值。

6.根据权利要求5所述的移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

在将所述输电线圈的输入电力设为PIN0、将所述输电线圈的铜损设为Pc1时,所述异物检测单元使用以(PIN0-Pc1)表示的值作为所述标准值以及测定值。

7.根据权利要求5所述的移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

在将所述输电线圈的输入电力设为PIN0、将所述输电线圈的铜损设为Pc1、将所述输电线圈的铁损设为Pf1时,所述异物检测单元使用以(PIN0-Pc1-Pf1)表示的值作为所述标准值以及测定值。

8.根据权利要求1或者5所述的移动体用非接触馈电装置,其特征在于,

所述异物检测用电力为额定馈电电力的20%以下。

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