[发明专利]具有双采样透镜的单轴立体成像装置

权利要求书

1.一种立体成像器，包括透镜和沿着所述透镜的光轴布置在所述透镜后面的成像传感器，所述透镜包括：

沿着所述光轴布置的前透镜组合件和沿着所述光轴布置的后透镜组合件；以及

第一采样透镜和第二采样透镜，其在所述前透镜组合件和所述后透镜组合件之间布置在所述光轴的对侧，并靠近所述透镜的孔径面。

2.根据权利要求1所述的立体成像器，进一步包括第一孔径和第二孔径，所述第一孔径和所述第二孔径布置在所述透镜的所述孔径面内，并且分别与所述第一采样透镜和所述第二采样透镜大致成直线，所述第一孔径和所述第二孔径以孔径间距而分离。

3.根据权利要求2所述的立体成像器，其中，所述第一孔径和所述第二孔径配置为允许通过改变所述孔径间距而改变所述成像器的立体影像。

4.根据权利要求2所述的立体成像器，其中，所述透镜配置为允许所述第一采样透镜和所述第二采样透镜分别配合所述第一孔径和所述第二孔径而移动。

5.根据权利要求2所述的立体成像器，其中，所述第一孔径和所述第二孔径是可变孔径。

6.根据权利要求2所述的立体成像器，其中，

所述第一采样透镜包括第一前组件采样透镜和第一后组件采样透镜，所述第一前组件采样透镜布置在所述第一孔径和所述前透镜组合件之间并靠近所述第一孔径，所述第一后组件采样透镜布置在所述第一孔径和所述后透镜组合件之间并靠近所述第一孔径；以及

所述第二采样透镜包括第二前组件采样透镜和第二后组件采样透镜，所述第二前组件采样透镜布置在所述第二孔径和所述前透镜组合件之间并靠近所述第二孔径，所述第二后组件采样透镜布置在所述第二孔径和所述后透镜组合件之间并靠近所述第二孔径。

7.根据权利要求1所述的立体成像器，进一步包括第一孔径和第二孔径，所述第一孔径和所述第二孔径布置在所述透镜的所述孔径面内，并以孔径间距而分离，而且所述第一采样透镜和所述第二采样透镜布置为与所述第一孔径和所述第二孔径相靠近、重叠并离轴。

8.根据权利要求7所述的立体成像器，其中，所述第一孔径和所述第二孔径配置为允许通过改变所述孔径间距而改变所述成像器的立体影像。

9.根据权利要求7所述的立体成像器，其中，所述透镜配置为允许所述第一采样透镜和所述第二采样透镜分别配合所述第一孔径和所述第二孔径而移动。

10.根据权利要求7所述的立体成像器，其中，所述第一孔径和所述第二孔径是可变孔径。

11.根据权利要求7所述的立体成像器，其中，

所述第一采样透镜包括第一前组件采样透镜和第一后组件采样透镜，所述第一前组件采样透镜布置在所述第一孔径和所述前透镜组合件之间并靠近所述第一孔径，所述第一后组件采样透镜布置在所述第一孔径和所述后透镜组合件之间并靠近所述第一孔径；以及

所述第二采样透镜包括第二前组件采样透镜和第二后组件采样透镜，所述第二前组件采样透镜布置在所述第二孔径和所述前透镜组合件之间并靠近所述第二孔径，所述第二后组件采样透镜布置在所述第二孔径和所述后透镜组合件之间并靠近所述第二孔径。

12.根据权利要求1所述的立体成像器，其中，所述传感器能操作以接收来自所述透镜的第一图像和第二图像，其中，所述第一图像通过由所述第一采样透镜从所述透镜的视场的光的第一部分所采样的光而形成，并且，所述第二图像通过由所述第二采样透镜从所述透镜的视场的光的第二部分所采样的光而形成。

13.根据权利要求1所述的立体成像器，进一步包括控制器，其用于对来自所述传感器的所述第一图像和所述第二图像提取图像数据，第一图像数据表示所述透镜的视场中的物体的第一透视图，而第二图像数据表示所述物体的第二透视图。

14.根据权利要求1所述的立体成像器，其中，所述传感器包括布置为接收所述第一图像的第一组件传感器、和布置为接收所述第二图像的第二组件传感器。

15.根据权利要求1所述的立体成像器，其中，所述第一采样透镜和所述第二采样透镜的至少其中之一的焦距小于所述前透镜组合件和所述后透镜组合件的组合在所述第一采样透镜和所述第二采样透镜不在时的焦距的一半。