[发明专利]光学头装置、光盘装置及衍射光学元件的位置调节方法有效

专利信息
申请号: 201280056054.9 申请日: 2012-10-24
公开(公告)号: CN103946921A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 篠田昌久;大牧正幸;中井贤也 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G11B7/09;G11B7/13
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;龚晓娟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 装置 光盘 衍射 元件 位置 调节 方法
【权利要求书】:

1.一种光学头装置,其特征在于,该光学头装置具有:

激光光源;

物镜,其使从所述激光光源射出的光束会聚而照射到光盘;

衍射光学元件,其使被所述光盘反射并透射过所述物镜的返回光束透射衍射,射出透射衍射光束;以及

光检测器,其接收所述透射衍射光束,

所述返回光束包含被所述光盘衍射后的反射衍射光束,

所述衍射光学元件包含:

主衍射区域,其被配置于所述反射衍射光束的0次光成分的一部分和所述反射衍射光束的±1次光成分的全部或一部分入射的位置处,具有0次衍射作用和±1次衍射作用;以及

副衍射区域,其被配置于下述的位置处,具有0次衍射作用和±1次衍射作用,其中,在设所述反射衍射光束的0次光成分与所述反射衍射光束的±1次光成分所成的列的方向为第1方向时,该位置在与所述第1方向垂直的第2方向上处于所述主衍射区域的外侧,且所述反射衍射光束的0次光成分的剩余部分和所述反射衍射光束的±1次光成分的剩余部分入射到该位置,

所述光检测器包含:

主受光部,其接收透射过所述主衍射区域和所述副衍射区域双方的所述透射衍射光束的0次光成分;以及

第1副受光部,其接收通过所述副衍射区域的该±1次衍射作用生成的所述透射衍射光束的+1次光成分和-1次光成分中的一方,

所述第1副受光部具有沿着与所述第1方向对应的第1排列方向排列的多个受光面。

2.根据权利要求1所述的光学头装置,其特征在于,

所述光检测器还包含接收所述透射衍射光束的该+1次光成分和该-1次光成分中的另一方的第2副受光部,

所述第1副受光部的该多个受光面包含沿着所述第1排列方向和与所述第2方向对应的第2排列方向排列的4个受光面,

所述第2副受光部具有沿着所述第1排列方向和所述第2排列方向排列的4个受光面。

3.根据权利要求2所述的光学头装置,其特征在于,所述光学头装置还具有:

第1输出端子组,其将在所述第1副受光部的该4个受光面检测到的信号单独地输出到外部;以及

第2输出端子组,其将在所述第2副受光部的该4个受光面检测到的信号单独地输出到外部。

4.根据权利要求2所述的光学头装置,其特征在于,所述光学头装置还具有:

第1加法器,其将在所述第1副受光部的该4个受光面中的被配置于所述第2排列方向上的一端侧的第1组受光面检测到的信号和在所述第2副受光部的该4个受光面中的被配置于所述一端侧的第2组受光面检测到的信号相加而生成第1和信号;

第2加法器,其将在所述第1副受光部的该4个受光面中的被配置于所述第2排列方向上的另一端侧的第3组受光面检测到的信号和在所述第2副受光部的该4个受光面中的被配置于所述另一端侧的第4组受光面检测到的信号相加而生成第2和信号;

第1输出端子,其将所述第1和信号输出到外部;以及

第2输出端子,其将所述第2和信号输出到外部。

5.根据权利要求3或4所述的光学头装置,其特征在于,

所述光学头装置还具有用于使所述衍射光学元件在所述第2方向上定位的位置调节机构。

6.根据权利要求1~5中的任意一项所述的光学头装置,其特征在于,

所述副衍射区域在所述第2方向上的宽度比所述反射衍射光束的0次光成分在所述第2方向上的直径大。

7.根据权利要求1~5中的任意一项所述的光学头装置,其特征在于,

所述副衍射区域在所述第2方向上的宽度小于所述反射衍射光束的0次光成分在所述第2方向上的直径。

8.根据权利要求1~7中的任意一项所述的光学头装置,其特征在于,

所述衍射光学元件还包含与所述副衍射区域的外周缘部相接且围起该外周缘部的周边区域,

所述周边区域具有使所述返回光束中的入射到该周边区域的光朝所述光检测器的方向以外的方向衍射的衍射构造。

9.根据权利要求1~7中的任意一项所述的光学头装置,其特征在于,

所述衍射光学元件还包含与所述副衍射区域的外周缘部相接且围起该外周缘部的周边区域,

所述周边区域具有遮蔽所述返回光束中的入射到该周边区域的光的构造。

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