[发明专利]操纵采样工具移动的光学方法

权利要求书

1.一种借助于采样工具对在基准面上的生物材料采样的方法，所述方法使得能够操纵所述采样工具从第一位置向第二位置来向所述基准面移动，和/或操纵所述基准面从第一位置向第二位置来向所述采样工具移动，所述第二位置处于接触位置，所述采样工具和所述基准面在所述接触位置是接触的，所述方法包括以下步骤：

a)使用光源照射在所述第一位置的所述采样工具以使得所述采样工具可见，并将所述采样工具的影像投影到所述基准面上的步骤，

b)借助于照相机采集所述采样工具和它投影到所述基准面上的影像的共同图像的步骤，

c)通过图像处理装置处理在步骤b)获得的所述图像以确定在所处理后的图像上，所述采样工具和它的投影影像之间的间隙是否等于零的步骤，

d)如果所述采样工具和它的投影影像之间的所述间隙不等于零，则向所述基准面移动所述采样工具和/或向所述采样工具移动所述基准面的步骤，并重复步骤a)、b)、c)和d)直到所述间隙等于零。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括以下步骤：

a’)在区域中没有所述采样工具的情况下，使用光源照射所述基准面，

b’)借助于照相机采集在所述区域中没有所述采样工具的情况下的所述基准面的图像，以获得基准图像；以及

其中，图像处理步骤c)包括从所述采样工具和它投影到所述基准面上的影像的共同图像减去组成所述基准图像的单元，以保留实质上代表所述采样工具和它投影到所述基准面上的影像的图像。

3.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括以下步骤：

e)当所述采样工具和它的投影影像之间的所述间隙等于零的时候，从所述接触位置向采样位置移动或连续移动所述采样工具和/或从所述接触位置向所述采样位置移动或连续移动所述基准面。

4.根据权利要求2所述的方法，所述方法包括以下步骤：

e)当所述采样工具和它的投影影像之间的所述间隙等于零的时候，从所述接触位置向采样位置移动或连续移动所述采样工具和/或从所述接触位置向所述采样位置移动或连续移动所述基准面。

5.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括以下步骤：

e’)当所述采样工具和它的投影影像之间的所述间隙等于零的时候，停止移动所述采样工具和/或停止移动所述基准面。

6.根据权利要求2所述的方法，所述方法包括以下步骤：

e’)当所述采样工具和它的投影影像之间的所述间隙等于零的时候，停止移动所述采样工具和/或停止移动所述基准面。

7.根据权利要求1到6中的一项所述的方法，其中，在步骤c)中，所述采样工具和它到所述基准面上的投影影像之间的间隙在所处理后的图像上的所述采样工具的远端和它的投影影像的相应端点之间测量。

8.根据权利要求1到6中的一项所述的方法，其中，将所述采样工具从第一位置向第二位置来向所述基准面移动，和/或将所述基准面从第一位置向第二位置来向所述采样工具移动的操作至少在两个步骤中执行。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，将所述采样工具从第一位置向第二位置来向所述基准面移动，和/或将所述基准面从第一位置向第二位置来向所述采样工具移动的操作至少在两个步骤中执行。

10.根据权利要求1到6中的一项所述的方法，其中，移动所述采样工具和/或移动所述基准面以至少两种不同的速度执行。

11.根据权利要求7所述的方法，其中，移动所述采样工具和/或移动所述基准面以至少两种不同的速度执行。

12.根据权利要求1到6中的一项所述的方法，其中，移动所述采样工具和/或移动所述基准面由步进电机控制。

13.根据权利要求7所述的方法，其中，移动所述采样工具和/或移动所述基准面由步进电机控制。

14.根据权利要求1到6中的一项所述的方法，其中，图像处理步骤c)包括对所述图像的二值化，以在所处理后的图像上隔离所述采样工具的图像和它的投影影像的图像。

15.根据权利要求7所述的方法，其中，图像处理步骤c)包括对所述图像的二值化，以在所处理后的图像上隔离所述采样工具的图像和它的投影影像的图像。