[发明专利]高速、覆盖区小的X射线断层摄影检查系统、设备和方法

权利要求书

1.一种计算断层摄影检查系统，其包括：

传送机，其被配置为沿行进方向移动待被检查的物体通过检查区；

一个或多个多射束X射线源阵列，其能操作以提供多个准直的X射线束沿大致垂直于所述行进方向的方向通过所述检查区；

一个或多个X射线检测器阵列，其被配置为检测从所述X射线源阵列通过所述检查区的X射线束；

电子控制器，其能操作以根据预编程的模式而电子地启动和关闭来自所述X射线源阵列的各X射线束；

信号处理单元，其能操作以记录通过所述X射线检测器阵列所检测到的对应的X射线信号并形成所述物体的多个X射线投影图像；以及

数据处理单元，其能操作以用于将所述多个X射线投影图像处理成所述物体的三维断层摄影图像。

2.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述检查区包括所述传送机通过的通道。

3.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个多射束X射线源阵列包括一个或多个非圆形阵列。

4.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个多射束X射线源阵列被配置为生成多个准直的X射线扇形射束。

5.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个多射束X射线源阵列被配置为生成多个准直的X射线锥形射束。

6.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个多射束X射线源阵列中的每一个都包括多个场致发射电子源。

7.根据权利要求6所述的检查系统，其中，所述多个场致发射电子源中的每一个都包括碳纳米管场致发射电子源。

8.根据权利要求1所述的检查系统，其中，一个或多个第一多射束X射线源阵列被布置在所述检查区的上方或下方且一个或多个第二多射束检测器阵列被布置在所述检查区的侧面。

9.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个多射束X射线源阵列中的每一个都包括介于大约5和100之间的各X射线生成源元件。

10.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个X射线源阵列包括：第一X射线源阵列，其能操作以生成相对较低能量的X射线光束；和第二X射线源阵列，其能操作以生成相对较高能量的X射线光束。

11.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个多射束X射线源阵列中的其中一个和对应的所述一个或多个X射线检测器阵列中的其中一个定位在至少大致相同的平面上。

12.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个多射束X射线源阵列包括至少一个第一多射束X射线源阵列和至少一个第二多射束X射线源阵列；

其中，所述一个或多个X射线检测器阵列包括对应于所述第一多射束X射线源阵列的至少一个第一X射线检测器阵列和对应于所述第二多射束X射线源阵列的至少一个第二X射线检测器阵列；以及

其中，所述第一多射束X射线源阵列和所述第二多射束X射线源阵列定位在沿所述行进方向以预定距离隔开的两个平行平面上。

13.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个X射线检测器阵列包括L形阵列或U形阵列中的其中一种阵列。

14.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个X射线检测器阵列分别包括至少两组检测元件，其中，一组检测元件被优化为检测相对较低能量的X射线而另一组检测元件被优化为检测相对较高能量的X射线。

15.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述一个或多个X射线检测器阵列包括多行检测器或平面检测器。

16.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述数据处理单元被配置且能操作以使得当投影图像的子集不包括在所述用于重建的数据集中时，能够重建所述物体的三维断层摄影图像。