[发明专利]估算太阳能装置的短路电流的系统及方法有效
申请号: | 201280058070.1 | 申请日: | 2012-09-21 |
公开(公告)号: | CN104170246A | 公开(公告)日: | 2014-11-26 |
发明(设计)人: | 阿诺德·艾兰尼克;欧勒·彼得·卡佩恩科 | 申请(专利权)人: | 第一太阳能有限公司;阿诺德·艾兰尼克;欧勒·彼得·卡佩恩科 |
主分类号: | H02S50/10 | 分类号: | H02S50/10 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 胡江海;鲁恭诚 |
地址: | 美国俄亥俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 估算 太阳能 装置 短路 电流 系统 方法 | ||
1.一种确定太阳能装置的短路电流的方法,所述方法包括:
在所述装置被完全装配之前,确定太阳能装置的窗口/发射层的厚度;
在所述装置被完全装配之前,确定太阳能装置的吸收层的吸收波长;
确定指示太阳能装置的至少一层透明层的透射特性的拟合参数;
使用所确定的窗口/发射层的厚度、所确定的吸收层的吸收波长和所确定的拟合参数来确定太阳能装置的短路电流。
2.如权利要求1所述的方法,其中,在太阳能装置被完全装配之前,确定短路电流。
3.如权利要求2所述的方法,其中,在利用太阳能模拟器测试太阳能装置之前,确定短路电流。
4.如权利要求2所述的方法,其中,在后接触层形成在太阳能装置上之前,确定短路电流。
5.如权利要求1所述的方法,其中,确定太阳能装置的窗口/发射层的厚度还包括使用已知波长的光照射所述装置。
6.如权利要求5所述的方法,其中,确定太阳能装置的窗口/发射层的厚度还包括使用波长为450nm至550nm的光照射所述装置。
7.如权利要求5所述的方法,其中,确定太阳能装置的窗口/发射层的厚度还包括使用探测器来探测透过所述装置的照射光的量。
8.如权利要求7所述的方法,所述方法还包括将所探测到的透射光的量与照射光的量相比较,以确定指示所述装置的窗口/发射层在已知波长处的透射率的比率。
9.如权利要求8所述的方法,所述方法还包括利用查询表来确定所述装置的与窗口/发射层在已知波长处的透射率对应的窗口/发射层的厚度。
10.如权利要求5所述的方法,其中,确定太阳能装置的窗口/发射层的厚度还包括用探测器来探测被所述装置反射的照射光的量。
11.如权利要求10所述的方法,所述方法还包括将探测到的反射光的量与照射光的量相比较,来确定指示所述装置的窗口/发射层在已知波长处的透射率的比率。
12.如权利要求1所述的方法,其中,确定太阳能装置的吸收层的吸收波长还包括用多个已知波长的光照射所述装置。
13.如权利要求12所述的方法,其中,确定太阳能装置的吸收层的吸收波长还包括用探测器来探测穿过所述装置的多种已知波长中的每一种波长的照射光的量。
14.如权利要求13所述的方法,还包括将每种波长的探测到的透射光的量与照射光的量进行比较,以确定指示所述装置的吸收层在所述多种波长中的每一种波长处的透射率的比率,并且通过相对于相应的波长绘制所确定的透射率比率,来产生透明度-波长曲线。
15.如权利要求14所述的方法,其中,吸收层的吸收波长是在透明度-波长曲线的二阶导数等于零的点处的透明度-波长曲线的切线在x轴上的截距。
16.如权利要求12所述的方法,其中,确定太阳能装置的吸收层的吸收波长还包括使用探测器针对所述多种已知波长中的每一种波长来探测被所述装置反射的照射光的量。
17.如权利要求16所述的方法,还包括将探测到的每种波长的反射光的量与照射光的量进行比较,来确定指示装置的吸收层在所述多种波长中的每一种波长处的透射率的比率。
18.如权利要求1所述的方法,其中,确定指示太阳能装置的基板和前接触层的透射特性的拟合参数还包括:针对第一修改的太阳能装置和第二修改的太阳能装置中的每一个来确定吸收波长和短路电流,第一修改的太阳能装置和第二修改的太阳能装置均具备与太阳能装置的基板和前接触层在材料上和结构上相同的基板和前接触层,第一修改的太阳能装置和第二修改的太阳能装置均缺少窗口/发射层,第一修改的太阳能装置和第二修改的太阳能装置均具备具有不同吸收波长的吸收层。
19.如权利要求18所述的方法,还包括使用第一修改的太阳能装置和第二修改的太阳能装置吸收波长和短路电流来确定太阳能装置的基板和前接触层的拟合参数。
20.如权利要求19所述的方法,其中,用等式Isc=a×BE+d来确定拟合参数d,其中,Isc是短路电流,BE是相应的吸收波长,a是系数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于第一太阳能有限公司;阿诺德·艾兰尼克;欧勒·彼得·卡佩恩科,未经第一太阳能有限公司;阿诺德·艾兰尼克;欧勒·彼得·卡佩恩科许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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