[发明专利]用于颗粒大小和浓度测量的检测方案无效
申请号: | 201280059154.7 | 申请日: | 2012-11-29 |
公开(公告)号: | CN103959039A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | J·沙米尔 | 申请(专利权)人: | P.M.L.离子监测装置有限公司 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14;G01N15/02;G01N21/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 吕俊刚;刘久亮 |
地址: | 以色*** | 国省代码: | 以色列;IL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 颗粒 大小 浓度 测量 检测 方案 | ||
1.一种颗粒监测系统,该颗粒监测系统包括:生成高斯光束的激光器;用于将所述高斯激光束转换成结构化暗光束的装置;聚焦透镜,该聚焦透镜将所述暗光束聚焦到运动通过所述照明暗光束的颗粒上;以及两个检测器,其中,所述两个检测器中的一个检测器相对于所述暗光束的各强度波瓣定位。
2.根据权利要求1所述的颗粒监测系统,其中,所述颗粒在相对于所述暗光束的方向成90度角的方向运动通过所述照明暗光束。
3.根据权利要求1所述的颗粒监测系统,其中,按下列方式中的至少一个方式记录来自所述两个检测器的信号:
a)作为单独信号;
b)作为所述两个检测器信号的差分信号;以及
c)作为所述两个检测器信号的和。
4.根据权利要求1所述的颗粒监测系统,所述颗粒监测系统包括分束器和在所述暗光束的暗线的垂直方向上定向的第二组检测器。
5.根据权利要求1所述的颗粒监测系统,所述颗粒监测系统包括分束器和第三检测器,该第三检测器被设置成允许同时测量来自所述颗粒的后向散射辐射。
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