[发明专利]显示设备、显示面板及其驱动方法以及电子设备

说明书

技术领域

本技术涉及在各自像素中包括例如像有机EL(电致发光)器件那样的发光器件的显示单元、显示面板、和驱动它们的方法。此外，本技术涉及包括上述显示单元的电子装置。

背景技术

近年来，在显示图像的显示单元的领域中，已经为商品化开发出了将发光亮度随从中流过的电流的值而变的电流驱动型发光器件，例如，有机EL器件用作像素的发光器件的显示单元。与液晶器件等不同，有机EL器件是自发光器件。因此，在使用有机EL器件的显示单元(有效EL显示单元)中，由于与需要光源的液晶显示单元相比，光源(背光源)是不必要的，所以可实现显示单元的厚度的减小和显示单元的亮度的增加。尤其，在显示单元将有源矩阵系统用作驱动系统的情况下，允许每个像素连续发光，以及可实现功耗的降低。因此，有机EL显示单元有望成为下一代平板显示器的主流。

顺便说一下，典型有机EL器件的伏安(I-V)特性随着时间的流逝而恶化(随时间恶化)。在利用电流驱动有机EL器件的像素电路中，当有机EL器件的I-V特性随时间而变时，有机EL器件和与该有机EL器件串联的驱动晶体管之间的分压比发生变化；因此，驱动晶体管的栅极-源极电压也发生变化。其结果是，流过驱动晶体管的电流的值也发生变化；因此，流过有机EL器件的电流的值也发生变化，以及发光亮度也相应地随电流值而变。

此外，驱动晶体管的阈值电压(Vth)或迁移率(μ)可能随时间而变，或由于制造过程中的变化，Vth或μ对于每个像素电路来说可能不同。在驱动晶体管的Vth或μ对于每个像素电路来说不同的情况下，流过驱动晶体管的电流的值对于每个像素电路来说也不同；因此，即使将相同电压施加于驱动晶体管的栅极，有机EL器件的发光亮度也不同，损害了屏幕的均匀性。

因此，即使有机EL器件的I-V特性随时间而变，或Vth或μ随时间而变，为了不受它们影响地保持有机EL器件的发光亮度不变，也已经开发出了具有对有机EL器件的I-V特性的变化的补偿功能和对Vth或μ的变化的校正功能的显示单元(例如，参照PTL1)。

引用列表

专利文献

[PTL 1]日本待审专利申请公告第2008-083272号

发明内容

图8例示了现有驱动定时的例子。在图8中，WSLn代表第n扫描线，WSLn+1代表第n+1扫描线，以及WSLn+2代表第n+2扫描线。此外，DSLn代表第n电源线，DSLn+1代表第n+1供应线，以及DSLn+2代表第n+2供应线。进一步，DTL代表与给定像素列相对应的信号线。更进一步，1H代表一个水平时段。

通常，同时进行用于Vth校正的扫描和用于μ校正的扫描。因此，难以在多个水平时段上相继进行Vth校正，例如，如图8所例示，希望对每个水平时段划分和进行Vth校正。因此，难以高速地进行用于Vth校正的扫描。

因此，希望提供能够高速进行用于Vth校正的扫描的显示单元和驱动它的方法，以及包括上述显示单元的电子装置。

顺便说一下，迁移率校正时段由施加于与驱动晶体管的栅极连接的写入晶体管的栅极的写脉冲的宽度(即，写入晶体管的ON(接通)时段)决定。但是，写脉冲不具有完美的方波，而具有如图26A所示的拐弯。因此，实际上，如图26B所例示，迁移率校正时段可能随写入晶体管的阈值电压而变。当迁移率校正时段发生变化时，如图27所例示，当有机EL器件发光时流过有机EL器件的电流Ids的幅度也发生变化，以及发光亮度也相对地发生变化。因此，迁移率校正时段优选的是变化尽可能小。

写入晶体管的阈值电压，例如，通过对写入晶体管的栅极-源极电压连续施加负偏压来改变(降低)。换句话说，使写入晶体管的阈值电压特性从增强漂移到耗尽。如本文所使用，负偏压指的是栅极电位相对于源极电位为负的偏压状态。增强指的是当将写脉冲施加于栅极时形成通道，使电流在源极与漏极之间流动的状态。此外，耗尽指的是未将写脉冲施加于栅极地使电流在源极与漏极之间流动的状态。

通常，在有机EL器件的发光时段或消光时段中将负偏压施加于写入晶体管。当对写入晶体管的栅极-源极电压连续施加负偏压时，在写入晶体管的阈值电压特性中发生耗尽漂移(depression shift)，例如，如图26B所例示，阈值电压从Vth1变化(降低)到Vth2。因此，迁移率校正时段变成比初始时段长Δt1和Δt2。其结果是，如图27所例示，当有机EL器件发光时流过有机EL器件的电流Ids减小了ΔIds，以及发光亮度也相应地降低。换句话说，发光亮度随使用有机EL显示单元的持续时间而降低。