[发明专利]浮质产生装置中的浮质形成基质的检测有效

专利信息
申请号: 201280060088.5 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN104010530A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: P·塔隆 申请(专利权)人: 菲利普莫里斯生产公司
主分类号: A24F47/00 分类号: A24F47/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张涛
地址: 瑞士纳*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 产生 装置 中的 形成 基质 检测
【权利要求书】:

1.一种浮质产生装置,其包括:

加热器元件,所述加热器元件构造成加热浮质形成基质;

功率源,所述功率源连接到所述加热器元件;和

控制器,所述控制器连接到所述加热器元件并连接到所述功率源,其中,所述控制器构造成控制从所述功率源供给到所述加热器元件的功率,以将所述加热器元件的温度保持在目标温度,并且所述控制器构造成将从所述功率源供给到所述加热器元件的功率或从所述功率源供给到所述加热器元件的能量的测量值与功率或能量的测量值阈值相比较,以检测靠近所述加热器元件的浮质形成基质的存在或靠近所述加热器元件的浮质形成基质的材料特性。

2.根据权利要求1所述的浮质产生装置,其中,所述能量的测量值是在预定的时间周期上的归一化的能量或归一化的能量的下降率。

3.根据权利要求1或2所述的浮质产生装置,其中,所述控制器构造成在所述功率或能量的测量值小于所述功率或能量的测量值阈值的情况下将从所述功率源供给到所述加热器元件的功率减小到零。

4.根据以上权利要求中任一项所述的浮质产生装置,其中,所述浮质产生装置构造成接收与所述加热器元件接触的浮质形成基质。

5.根据以上权利要求中任一项所述的浮质产生装置,其中,所述控制器构造成基于所述加热器元件的电阻的测量值来监测所述加热器元件的温度。

6.根据以上权利要求中任一项所述的浮质产生装置,其中,所述浮质产生装置是电发烟装置。

7.根据以上权利要求中任一项所述的浮质产生装置,其中,所述浮质产生装置包括数据输出器件,并且其中,所述控制器构造成向所述数据输出器件提供检测到靠近所述加热器元件的浮质形成基质的存在或靠近所述加热器元件的浮质形成基质的材料特性的记录。

8.根据权利要求7所述的浮质产生装置,其中,所述控制器构造成在所述功率源的充电操作期间向所述数据输出器件提供检测到靠近所述加热器元件的浮质形成基质的存在或靠近所述加热器元件的浮质形成基质的材料特性的记录。

9.一种用于在浮质产生装置中检测靠近加热器元件的浮质形成基质的存在或浮质形成基质的材料特性的方法,所述浮质产生装置包括:加热器元件,所述加热器元件构造成加热浮质形成基质;和连接到所述加热器元件的功率源,所述方法包括:

控制从所述功率源供给到所述加热器元件的功率,以将所述加热器元件的温度保持在目标温度;将从所述功率源供给到所述加热器元件的功率或从所述功率源供给到所述加热器元件的能量的测量值与功率或能量的测量值阈值相比较;以及,基于比较步骤的结果,确定靠近所述加热器元件的浮质形成基质的存在或靠近所述加热器元件的浮质形成基质的材料特性。

10.根据权利要求9所述的方法,还包括以下步骤:在功率或能量的测量值小于功率或能量的测量值阈值的情况下,将从所述功率源供给到所述加热器元件的功率减小到零。

11.根据权利要求9或10所述的方法,其中,所述能量的测量值是在预定的时间周期的上归一化的能量或归一化的能量的下降率。

12.根据权利要求9、10或11所述的方法,还包括以下步骤:基于所述加热器元件的电阻的测量值来监测所述加热器元件的温度。

13.一种计算机程序,当在计算机或其它适当的处理装置上执行所述计算机程序时,执行根据权利要求9至12中任一项所述的方法。

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