[发明专利]核磁共振成像装置以及核磁共振成像方法有效
申请号: | 201280060866.0 | 申请日: | 2012-12-18 |
公开(公告)号: | CN104094105B | 公开(公告)日: | 2017-07-18 |
发明(设计)人: | 佐佐木进;弓削达郎;平山祥郎 | 申请(专利权)人: | 国立研究开发法人科学技术振兴机构 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08;A61B5/055;G01R33/48;H01L21/66 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 权太白,谢丽娜 |
地址: | 日本埼玉*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 核磁共振成像 装置 以及 方法 | ||
1.一种核磁共振成像装置,其特征在于,
具备:探针,能够在静态的梯度磁场中收纳试样;
施加部,以预定的时间间隔2τ对所述试样多重地施加与所述试样的预定位置处的所述静态的梯度磁场对应的拉莫尔频率的π脉冲来作为多π脉冲;以及
图像处理部,测量施加所述多π脉冲时来自所述试样的核磁共振(NMR)信号,并对从施加所述多π脉冲经过了预定时间后的该NMR信号的强度与时间之间的关系以直线进行拟合,根据所述直线的斜率求得横向弛豫时间(T2L)并进行其成像,
所述NMR信号和所述横向弛豫时间(T2L)具有以下的式(1)所示的关系,
所述π脉冲的预定的时间间隔2τ与所述试样的核自旋从外部环境受到的噪声的频率f由以下的式(2)表示,
[算式1]
W(t):NMR信号强度
T2L:信号衰减常数(横向弛豫时间)
t:时间
f:核自旋受到的噪声的频率
τ:π脉冲间隔的1/2。
2.根据权利要求1所述的核磁共振成像装置,其特征在于,
所述NMR信号的横向弛豫时间依赖于所述π脉冲预定的的时间间隔2τ,并且依赖于所述π脉冲的预定的时间间隔2τ的横向弛豫时间依赖于所述试样的核自旋从外部环境受到的噪声,所述施加部利用这一点,施加根据所述试样的外部环境决定的预定的时间间隔2τ的π脉冲。
3.根据权利要求2所述的核磁共振成像装置,其特征在于,
所述图像处理部通过以颜色的浓淡表示横向弛豫时间的大小来进行所述横向弛豫时间的成像。
4.根据权利要求1~3的任意一项所述的核磁共振成像装置,其特征在于,
所述试样为半导体,所述π脉冲的时间间隔2τ是与所述半导体的载流子和核自旋的相互作用成为噪声的频率区域对应的间隔。
5.根据权利要求1~3的任意一项所述的核磁共振成像装置,其特征在于,
所述试样为生物体,所述π脉冲的时间间隔2τ为与生物体反应或者脏器的特定部分的反应速度相应的频率区域对应的间隔。
6.根据权利要求1~3的任意一项所述的核磁共振成像装置,其特征在于,
所述施加部能够以所述预定的时间间隔2τ多重地施加与所述试样的多个不同位置处的所述静态的梯度磁场对应的拉莫尔频率的π脉冲,
所述图像处理部能够针对所述试样的多个不同位置的每一个,根据从施加所述多π脉冲经过了预定时间后的所述NMR信号的强度与时间之间的关系,求得横向弛豫时间(T2L)并进行其成像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国立研究开发法人科学技术振兴机构,未经国立研究开发法人科学技术振兴机构许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280060866.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。