[发明专利]MPI中的背景去除

权利要求书

1.一种用于检测视场(28)中的磁性颗粒的装置(100)，所述装置包括：

-包括选择场信号发生器单元(110)和选择场元件(116)的选择器件，所述选择器件用于生成具有其磁场强度的空间团的磁选择场(50)，使得在所述视场(28)中形成具有低磁场强度的、所述磁性颗粒的磁化不饱和的第一子区(52)和具有较高磁场强度的、所述磁性颗粒的磁化饱和的第二子区(54)，

-包括驱动场信号发生器单元(122)和驱动场线圈(124；125、126、127)的驱动器件(120)，所述驱动器件借助磁驱动场来改变所述视场(28)中的两个所述子区(52、54)的空间位置，使得磁性材料的磁化发生局部改变，

-包括至少一个信号接收单元(140)和至少一个接收线圈(148)的接收器件，所述接收器件用于采集检测信号，所述检测信号取决于所述视场(28)中的磁化，所述磁化受所述第一子区(52)和所述第二子区(54)的空间位置的改变的影响，以及

-重建器件(152)，所述重建器件用于从检测信号重建所述视场(28)的图像，所述检测信号包括多个频率分量，其中，一个或多个频率分量利用从背景信号测量获得的频率分量特异性信号品质因数被选择和/或被加权，并且其中，仅选择和/或加权的频率分量被用于所述图像的重建。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述重建器件(152)适于利用信号品质阈值选择频率分量，其中，仅具有高于所述信号品质阈值的信号品质因数的那些频率分量被选择。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述重建器件(152)适于对所有或选择的频率分量通过其频率分量特异性信号品质因数进行加权。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述装置适于执行夹杂着系统功能测量的背景信号测量，并适于从所述背景信号测量导出所述信号品质因数。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，所述装置适于在比系统功能测量更长的时间间隔期间执行背景信号测量。

6.根据权利要求4或5所述的装置，其中，所述重建器件(152)适于通过从所述背景信号测量确定频率特异性背景信号并从系统功能测量的对应频率分量减去这些频率特异性背景信号，而从所述系统功能测量去除缓慢变化的背景信号。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述重建器件(152)适于对所述背景信号测量进行内插并适于使用所内插的背景信号测量来确定所述频率特异性背景信号。

8.根据权利要求6所述的装置，其中，所述装置适于重复进行夹杂着系统功能测量的所述背景信号测量，并适于对所获得的背景信号测量进行平均，并且其中，所述重建器件(152)适于从所述经平均的所述背景信号测量确定所述频率特异性背景信号。

9.根据权利要求4所述的装置，其中，所述装置适于在以不同的时间比例重复进行所述背景信号测量。

10.根据权利要求4所述的装置，其中，所述装置适于在接收检测信号以重建所述视场的图像之前和/或之后执行所述背景信号测量。

11.根据权利要求1所述的装置，其中，所述装置适于执行校准测量，其中，在磁性样本被移动通过所述视场的同时第一校准测量被执行，并且在所述视场中无任何磁性材料的情况下第二校准测量被执行。