[发明专利]高压电源滤波器在审

专利信息
申请号: 201280064753.8 申请日: 2012-12-06
公开(公告)号: CN104025250A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 约翰·范德梅;亚历山大·齐皮洛维奇 申请(专利权)人: DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 曹晓斐
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要:
搜索关键词: 高压电源 滤波器
【权利要求书】:

1.一种质谱仪系统,其包含:

离子分析器;

高压电源,其电耦合到所述分析器;和

高压滤波器,其电耦合到所述高压电源且经配置以降低来自由所述高压电源输出的高正电压的噪声,且进一步经配置以降低来自由所述高压电源输出的高负电压的噪声。

2.根据权利要求1所述的质谱仪系统,其中所述高压滤波器包含一或多个二极管,其经配置以在由所述高压电源输出的电压到达所述分析器的输出端之前过滤来自所述电压的噪声,且任选地其中所述一或多个二极管包含并联电耦合且彼此在相反方向上安置的第一二极管和第二二极管。

3.根据权利要求1所述的质谱仪系统,其中所述高压滤波器包含至少一个晶体管,其经配置以在由所述高压电源输出的电压到达所述分析器的输出端之前过滤来自所述电压的噪声。

4.根据权利要求3所述的质谱仪系统,其中所述至少一个晶体管包含并联电耦合的第一晶体管和第二晶体管。

5.根据权利要求3所述的质谱仪系统,其中所述至少一个晶体管包含至少两个并联电耦合的晶体管对,每一对包含达林顿(Darlington)晶体管。

6.根据权利要求1所述的质谱仪系统,其中所述高压电源为电耦合到所述分析器的唯一电压电源。

7.根据权利要求1所述的质谱仪系统,其中所述分析器包含透镜、加速器、电极、衬垫、反射器和一或多个多通道板检测器中的至少一者,且所述高压电源电耦合到所述透镜、所述加速器、所述电极、所述衬垫、所述反射器和所述一或多个多通道板检测器中的至少一者。

8.一种用于质谱仪系统的高压电源的电路,其包含:

高压输入端;

高压输出端;

二极管,其在所述高压输入端和所述高压输出端之间电耦合,且经配置以在由所述高压输入端输出的电压到达所述高压输出端之前过滤来自所述电压的噪声;以及

电容器,其电耦合到所述二极管。

9.根据权利要求8所述的电路,其进一步包含:

第二二极管,其并联电耦合到所述二极管,安置在与所述二极管方向相反的方向上,且经配置以在由所述高压输入端输出的电压到达所述高压输出端之前过滤来自所述电压的噪声。

10.根据权利要求8或11所述的电路,其中所述二极管和所述第二二极管中的任一者或二者经配置以自动调整从而在所述高压输出端处实现所需输出电压。

11.根据权利要求8所述的电路,其中向接近于质谱仪的离子分析器或在其中的透镜施加所述高压输出端。

12.一种用于质谱仪系统的高压电源的电路,其包含:

高压输入端;

高压输出端;

低通滤波器,其在所述高压输入端和所述高压输出端之间耦合,且经配置以防止高于阈频率的频率通过所述高压输出端;以及

至少一个晶体管,其在所述高压输入端和所述高压输出端之间耦合,位于所述低通滤波器的下游,且经配置以在由所述高压输入端输出的电压到达所述高压输出端之前过滤来自所述电压的噪声。

13.根据权利要求12所述的电路,其中所述至少一个晶体管包含射极输出器晶体管。

14.根据权利要求12所述的电路,其中所述至少一个晶体管包含至少两个并联电耦合的晶体管,且任选地其中所述至少两个晶体管的第一晶体管包含npn晶体管且所述至少两个晶体管的第二晶体管包含pnp晶体管。

15.根据权利要求12所述的电路,其中所述至少一个晶体管包含至少两个并联电耦合的晶体管对,每一对包含达林顿晶体管且任选地其中所述至少两个晶体管对的第一晶体管对包含至少两个npn晶体管且所述至少两个晶体管对的第二晶体管对包含至少两个pnp晶体管。

16.根据权利要求12所述的电路,其中所述低通滤波器包含至少一个电阻器和至少一个电容器,且任选地其中所述低通滤波器包含二阶低通滤波器以使得所述至少一个电阻器包含至少两个电阻器且所述至少一个电容器包含至少两个电容器。

17.根据权利要求12所述的电路,其进一步包含与所述至少一个晶体管并联电耦合的齐纳(Zener)二极管对。

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