[发明专利]加热烹饪器有效

专利信息
申请号: 201280064788.1 申请日: 2012-09-05
公开(公告)号: CN104024740A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 岸良健太郎;岩田昇;滨本将树;北泽田鹤子;江藤秀树;小谷晃央;中峻之;村上善照 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: F24C7/04 分类号: F24C7/04;F24C1/00;F24C1/02;F24C7/02
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 加热 烹饪
【权利要求书】:

1.一种加热烹饪器,其特征在于,包括:

对被加热物进行加热的加热部;

电磁波产生部,其为了判别所述被加热物的烹饪状态而向所述被加热物发射100GHz以上且120THz以下的频率的电磁波;

电磁波检测部,其对所述电磁波产生部发射的所述电磁波进行检测;和

运算部,其根据检测到所述电磁波的所述电磁波检测部输出的信号,判别所述被加热物的烹饪状态。

2.如权利要求1所述的加热烹饪器,其特征在于:

所述电磁波的频率为2.5THz以下。

3.如权利要求1或2所述的加热烹饪器,其特征在于,包括:

收容所述被加热物的加热室;和

用于将所述加热室的内部的气体向外部排出的排气部。

4.如权利要求1~3中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

所述电磁波向不同的多处发射,所述电磁波检测部输出与该各个所述电磁波对应的多个所述信号。

5.如权利要求4所述的加热烹饪器,其特征在于:

向不同的多处发射的各个所述电磁波的发射路径的长度大致相同。

6.如权利要求4或5所述的加热烹饪器,其特征在于:

向不同的多处发射的所述电磁波,射中所述被加热物的与支承所述被加热物的支承部件的接触位置和所述支承部件的与所述被加热物的非接触位置。

7.如权利要求4~6中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

向不同的多处发射的所述电磁波,射中所述被加热物的与支承所述被加热物的支承部件的接触位置和所述被加热物的与所述支承部件的非接触位置。

8.如权利要求1~7中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

包括对所述被加热物的周边的湿度进行检测的湿度检测部,

所述运算部使用所述湿度检测部检测到的所述湿度,对所述电磁波检测部输出的所述信号进行修正。

9.如权利要求1~8中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

包括对所述被加热物的温度进行检测的温度检测部,

所述运算部使用所述温度检测部检测到的所述温度,对所述电磁波检测部输出的所述信号进行修正。

10.如权利要求1~9中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

所述运算部根据所述电磁波检测部输出的所述信号的绝对值来判别所述被加热物的烹饪状态。

11.如权利要求1~9中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

所述运算部根据所述电磁波检测部输出的所述信号的时间变化来判别所述被加热物的烹饪状态。

12.如权利要求11所述的加热烹饪器,其特征在于:

具有所述电磁波检测部输出的所述信号的时间变化量的预先确定的基准值。

13.如权利要求1~9中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

所述电磁波检测部对通过所述被加热物的所述电磁波进行检测,

所述运算部根据能够利用所述电磁波检测部检测出的通过所述被加热物的所述电磁波的位置的变化,判别所述被加热物的烹饪状态。

14.如权利要求13所述的加热烹饪器,其特征在于:

所述电磁波的发射位置进行变化。

15.如权利要求13或14所述的加热烹饪器,其特征在于:

包括指示所述电磁波的发射位置的指示部。

16.如权利要求9~15中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

具有所述温度检测部的输出的预先确定的基准值,

在所述被加热物的烹饪开始后,以所述温度检测部的输出成为所述基准值以上为条件,向所述被加热物发射用于判别所述被加热物的烹饪状态的所述电磁波。

17.如权利要求1~16中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

包括控制所述加热部的动作的控制部。

18.如权利要求1~17中任一项所述的加热烹饪器,其特征在于:

包括显示所述加热烹饪器的烹饪状态的显示部。

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