[发明专利]对追踪系统的术中质量监测有效
申请号: | 201280064957.1 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN104010587B | 公开(公告)日: | 2017-09-05 |
发明(设计)人: | A·K·贾殷;V·帕塔萨拉蒂 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B90/00 | 分类号: | A61B90/00;A61B5/06;A61B17/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 王英,刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 追踪 系统 质量 监测 | ||
1.一种介入系统,包括:
介入工具(20),其具有追踪点;
成像系统(30),其能够操作用于生成所述介入工具(20)的至少部分相对于身体的解剖区域的至少一个图像;
追踪系统(40),其能够操作用于追踪所述介入工具(20)和所述成像系统(30)在空间参考系内相对于所述身体的所述解剖区域的任何移动,其中,所述追踪系统(40)针对所述介入工具(20)和所述成像系统(30)进行校准;以及
追踪质量监测器(52),其能够操作用于根据针对每个图像的所述追踪点在所述空间参考系内的校准追踪位置与所述追踪点在所述图像中的图像坐标位置之间的校准位置误差而监测所述追踪系统(40)的追踪质量。
2.如权利要求1所述的介入系统,其中,每个校准位置误差为所述空间参考系的一个或多个维度上所述追踪点在所述空间参考系内的所述校准追踪位置与所述追踪点在所述图像中的所述图像坐标位置之间的空间差。
3.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述追踪质量监测器(52)还能够操作用于生成所述空间参考系内相对于所述身体的所述解剖区域的校准位置误差的分布图。
4.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述追踪质量监测器(52)还能够操作用于响应于至少一个校准位置误差超过校准误差阈值而提供警报。
5.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述追踪质量监测器(52)还能够操作用于响应于至少一个校准位置误差超过校准误差阈值,而对所述校准进行校正,所述校准是针对所述介入工具(20)和所述成像系统(30)而对所述追踪系统(40)进行的。
6.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述介入工具(20)为超声探头,并且所述追踪点为所述超声探头的头部。
7.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述介入工具(20)为导管,并且所述追踪点为所述导管的末端。
8.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述成像系统(30)为超声成像系统(30)。
9.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述成像系统(30)为X射线成像系统(30)。
10.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述追踪系统(40)为电磁追踪系统(40)。
11.如权利要求1所述的介入系统,其中,所述追踪系统(40)为光学追踪系统(40)。
12.一种介入工作站,包括:
介入导航器(51),其能够操作用于在介入程序期间,可视化介入工具(20)在空间参考系内相对于身体的解剖区域的至少一个配准图像的位置;以及
追踪质量监测器(52),其能够操作用于根据针对每个配准图像的所述追踪点在所述空间参考系内的校准追踪位置与所述追踪点在所述配准图像中的图像坐标位置之间的校准位置误差而监测所述至少一个配准图像的追踪质量。
13.如权利要求12所述的介入工作站,其中,每个校准位置误差为所述空间参考系的一个或多个维度上所述追踪点在所述空间参考系内的所述校准追踪位置与所述追踪点在所述图像中的所述图像坐标位置之间的空间差。
14.如权利要求12所述的介入工作站,其中,所述追踪质量监测器(52)还能够操作用于生成所述空间参考系内相对于所述身体的所述解剖区域的校准位置误差的分布图。
15.如权利要求12所述的介入工作站,其中,所述追踪质量监测器(52)还能够操作用于以下中的至少一项:响应于至少一个校准位置误差超过校准误差阈值而提供警报,以及响应于至少一个校准位置误差超过校准误差阈值而对所述校准进行校正,所述校准是针对所述介入工具(20)和成像系统(30)而对所述追踪系统(40)进行的。
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