[发明专利]自动分析装置以及自动分析装置中的试剂处理方法有效
申请号: | 201280065929.1 | 申请日: | 2012-12-26 |
公开(公告)号: | CN104024861A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 萩原孝明;山泽和方;藤田浩气 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 以及 中的 试剂 处理 方法 | ||
1.一种自动分析装置,其特征在于,为具备试剂保管部、试剂准备处理机构和存储部的自动分析装置,所述试剂保管部配置有多个试剂容器,所述试剂准备处理机构至少具有搅拌收容于所述试剂容器中的试剂的试剂搅拌机构,所述存储部储存配置在所述试剂保管部的试剂容器的试剂准备处理优先级,所述自动分析装置具备:
试剂加载器,其即使在该自动分析装置的分析动作中,也能够投入重新配置在所述试剂保管部的试剂容器;以及
控制部,其对每个试剂将配置在所述试剂保管部的试剂容器内的试剂的试剂准备处理优先级储存于所述存储部,根据储存于所述存储部的试剂准备处理优先级,对从所述试剂加载器重新投入的试剂,判断是否比试样分析动作优先执行利用所述试剂准备机构的试剂准备处理,
根据所述控制部的判断,所述试剂准备处理机构执行投入到所述试剂保管部中的试剂的准备处理。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,具备取得与收容于配置在所述试剂保管部内的试剂容器中的试剂的剩余量相关的信息的设备,
所述试剂准备处理优先级是根据与试剂容器内的试剂的剩余量相关的信息来设定,并随着与剩余量相关的信息的变动而更新。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,具备对每个试剂设定所述试剂准备处理优先级的输入设备。
4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,所述输入设备是设于所述试剂加载器附近的按钮,根据所述按钮的按压方法来设定试剂准备处理优先级。
5.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,具备手动变更所述试剂准备处理优先级的变更设备。
6.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,所述试剂搅拌机构被控制成:即使在分析动作中也能够进行搅拌收容于所述试剂容器的试剂的动作。
7.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,就所述试剂准备处理优先级而言,
在试剂容器内的试剂剩余量比第一阈值少的情况、不满足1天的使用量的情况以及未设定有用于登记试剂的参数的情况下,为“高”,
在试剂容器内的试剂剩余量为第一阈值以上且第二阈值以下的情况下,为“中”,
在试剂容器内的试剂剩余量超过第二阈值的情况下,为“低”。
8.根据权利要求7所述的自动分析装置,其特征在于,具备对试剂容器重新投入到所述试剂保管部的时刻起的时间进行计时的计时器,
在所述试剂准备处理优先级为“中”或者“低”的情况下,所述控制部判断由所述计时器计时的时间是否超过预先设定的待机极限时间,在所述计时的时间超过所述待机极限时间的情况下,根据所述控制部的指令,所述试剂准备处理机构比试样分析动作优先执行投入到所述试剂保管部中的试剂的准备处理。
9.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,所述试剂准备处理机构具有执行试剂的校准的校准机构。
10.根据权利要求8所述的自动分析装置,其特征在于,在所述试剂准备处理优先级为“中”的情况下,由所述计时器所计时的时间不超过所述待机极限时间且所述试剂准备处理机构未被使用时,所述试剂准备处理机构执行投入到所述试剂保管部中的试剂的准备处理。
11.根据权利要求10所述的自动分析装置,其特征在于,具备设定所述待机极限时间的设定设备。
12.根据权利要求9所述的自动分析装置,其特征在于,在所述存储部中储存有配置在试剂保管部中的试剂容器内的试剂信息,在与所述试剂信息读取机构读取的试剂容器的试剂同一种类的检查项目中使用的试剂已经储存于所述存储部,并且已执行完校准的情况下,对所述试剂信息读取机构读取的试剂容器的试剂,利用所述已执行完的校准结果。
13.根据权利要求7所述的自动分析装置,其特征在于,在未设定用于登记试剂的参数的情况下,所述控制部通过外部网络下载检查项目的参数。
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