[发明专利]在X射线系统中生成衰减图像数据和相位图像数据有效
申请号: | 201280066654.3 | 申请日: | 2012-12-26 |
公开(公告)号: | CN104039227B | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | T·克勒;E·勒斯尔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 刘瑜,王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 系统 生成 衰减 图像 数据 相位 | ||
1.一种用于生成相位图像数据(38)的方法,所述方法包括如下步骤:
接收包括第一逐像素测量信号值(30a)的第一X射线图像数据(28a);
接收包括第二逐像素测量信号值(30b)的第二X射线图像数据(28b);
其中,所述第一X射线图像数据(28a)是以第一测量模式获得的,并且所述第二X射线图像数据(28b)是以不同于所述第一测量模式的第二测量模式获得的;
通过根据以第一测量模式在像素(31)处获得的第一测量信号值(30a)和以第二测量模式在所述像素(31)处获得的第二测量信号值(30b)确定所述像素(31)处的相位值(34),来根据所述第一X射线图像数据(28a)和所述第二X射线图像数据(28b)确定包括逐像素相位值(34)的相位图像数据(38);其中,X射线探测器(18)用于同时执行所述第一测量模式和所述第二测量模式;
其中,所述第一X射线图像数据(28a)是以光子能量的第一谱加权获得的,并且所述第二X射线图像数据(28b)是以不同于所述第一谱加权的第二谱加权获得的,并且
其中,所述相位值(34)是基于对所述第一测量模式的能量行为进行建模的第一灵敏度函数和对所述第二测量模式的能量行为进行建模的第二灵敏度函数而确定的,所述第一灵敏度函数不同于所述第二灵敏度函数。
2.根据权利要求1所述的方法,
其中,所述第一谱加权和所述第二谱加权包括对光子进行计数、对光子能量进行积分或确定光子能量波动。
3.根据前述权利要求之一所述的方法,
其中,所述相位值(34)是通过对方程系进行数值反转而确定的,所述方程系包括针对所述相位值(34)和所述第一测量信号值(30a)的方程以及针对所述相位值(34)和所述第二测量信号值(30b)的方程。
4.根据权利要求1-2之一所述的方法,
其中,所述相位值是基于使所述相位值(34)与基于测量模式的测量信号值(30a、30b)相互关联的经验模型而确定的。
5.根据权利要求1-2之一所述的方法,还包括以下步骤:
根据以第一测量模式在像素(31)处获得的第一测量信号值(30a)和以第二测量模式在所述像素(31)处获得的第二测量信号值(30b)来确定所述像素(31)处的衰减值(32)。
6.根据权利要求1-2之一所述的方法,还包括:
利用适于以不同的谱加权探测光子的一个探测器(18)来同时获得所述第一X射线图像数据(28a)和所述第二X射线图像数据(28b)。
7.根据权利要求1-2之一所述的方法,
其中,所述第一X射线图像数据(28a)是以第一能量水平获得的,并且所述第二X射线图像数据(28b)是以不同于所述第一能量水平的第二能量水平获得的。
8.根据权利要求1-2之一所述的方法,还包括:
利用基于光栅的差分相位成像系统以第一能量水平来获得所述第一X射线图像数据(28a);
利用所述基于光栅的差分相位成像系统以第二能量水平并在相同的光栅位置处来获得所述第二X射线图像数据(28b)。
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