[发明专利]物理量检测装置

权利要求书

1.一种物理量检测装置，其特征在于，包括：

与检测物理量的传感器之间进行双向通信的通信线；

以比所述传感器高的工作电压工作，并经由所述通信线取得所述传感器检测出的物理量的值的逻辑电路；

与所述传感器之间发送和接收信号的输入输出电路；

将所述输入输出电路接收到的信号转换为数值的A/D转换器；和

对所述逻辑电路经由所述通信线向所述传感器输出的信号的电压进行降压的降压电路，

所述逻辑电路包括运算器，该运算器根据规定的第一高电平阈值和第一低电平阈值，判定由所述A/D转换器转换为数值后的所述信号是高电平信号还是低电平信号，

所述输入输出电路和所述A/D转换器相对于所述传感器相互并联连接，

所述运算器在经由所述通信线从所述传感器接收描述所述物理量的信号时，

代替所述第一高电平阈值和所述第一低电平阈值，根据在所述运算器实施的运算处理上决定的第二高电平阈值和第二低电平阈值，判定由所述A/D转换器转换为数值后的所述信号是高电平信号还是低电平信号，由此取得所述传感器发送的所述物理量的值。

2.如权利要求1所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述运算器将所述第二高电平阈值和所述第二低电平阈值取为不同的值。

3.如权利要求1所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述运算器分别记录从所述传感器接收的高电平信号和低电平信号，

将所记录的所述高电平信号与所述低电平信号之间的值作为所述第二高电平阈值、所述第二低电平阈值、或兼作所述第二高电平阈值和所述第二低电平阈值的阈值来使用。

4.如权利要求3所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述运算器将所述被记录的高电平信号与低电平信号的移动平均、算术平均、加权平均或平方平均作为兼作所述第二高电平阈值和所述第二低电平阈值的阈值来使用。

5.如权利要求3所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述运算器计算所述被记录的高电平信号与低电平信号的中间值，

将所述中间值加上偏置量而得到的值作为所述第二高电平阈值，

将所述中间值减去偏置量而得到的值作为所述第二低电平阈值。

6.如权利要求5所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述被记录的高电平信号与低电平信号之间的差的绝对值越大，所述运算器将所述偏置量设得越大。

7.如权利要求5所述的物理量检测装置，其特征在于：

在由所述A/D转换器转换为数值的结果为处于所述第二高电平阈值与所述第二低电平阈值之间的情况下，所述运算器将该情况视为没有能够从所述传感器接收到所述信号。

8.如权利要求1所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述运算器在从所述传感器接收所述信号时，在互不相同的时刻多次实施对相同值的采样。

9.如权利要求8所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述运算器将对所述传感器发送的高电平信号进行采样时的所述时刻与对所述传感器发送的低电平信号进行采样时的所述时刻设为互不相同的时刻。

10.如权利要求8所述的物理量检测装置，其特征在于：

在通过各次的所述采样取得的所述信号间的差为规定值以上的情况下，所述运算器使所述时刻临时延迟，或临时降低所述采样的频率，再次尝试所述采样。

11.如权利要求8所述的物理量检测装置，其特征在于：

在所述多次的采样的结果互不相同的情况下，所述运算器将该情况视为没有能够从所述传感器接收到所述信号。

12.如权利要求1所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述逻辑电路包括连接在所述A/D转换器的输入端子与所述逻辑电路的工作电源之间的上拉电阻器，

所述降压电路的一端与所述上拉电阻器连接，另一端接地。

13.如权利要求1所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述降压电路构成为配置在所述传感器与所述逻辑电路之间的分压电阻。

14.如权利要求1所述的物理量检测装置，其特征在于：

所述逻辑电路使用I2C方式与所述传感器之间进行通信。